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技术文章
F50薄膜厚度均匀性测量仪-应用与分析
点击次数:38 发布时间:2024/7/26 13:53:47
F50薄膜厚度均匀性测量仪-应用与分析
http://www.app17.com/c130027/products/d13170139.html
F50薄膜厚度均匀性测量仪
依靠F50的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。
产品名称: F50薄膜厚度测量仪
品牌: Filmetrics
产品型号: F50
产地: 美国
自动化薄膜厚度绘图系统
依靠F50的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。
系统中预设了许多坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编 辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。
可测样品膜层
基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:
量测原理
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射,由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉,从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,我们可以判断我们可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(愈多的震荡代表较大的厚度)。而其他的材料特性如折射率与粗糙度也能同时测量。
FILMeasure软件提供两种分析模式:
Sepectru-Matching与FFT。在Spectrum-Matching模式中,您可以分析厚度与折射率。反正,FTT模式虽然只能测量厚度,但在较厚的薄膜厚度测量,FFT的分析能力更为健全。
FILMapper软件-自动测量
测绘图案绘制
用户能随心所欲的绘制所需的图案,操作功能方便省时
测绘图案参数:
•圆形/方形
•放射状
•中心或边缘排除
•点位密度
2D和3D的测绘
不论是反射率,厚度还是折射率的测量,都可以用2D或3D呈现。测绘结果能依不同的需要做调整,参数设定简单容易。测绘图能从不同的角度检视。
原创作者:北京伊微视科技有限公司