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透明晶圆缺陷扫描Lumina AT1
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详细内容
简介:
Lumina AT1可以在4分钟内完成150毫米晶圆的扫描,对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。
大样品300 x 300 mm。
厂商简介
Lumina Instruments,总部位于美国加利福尼亚州圣何塞,公司创始人在透明、半透明和不透明基板全表面缺陷检测创新了更快速准确的方法,因此创建了革命性的仪器品牌lumina.
技术创新
将样片放入系统中,3~5分钟即可完成扫描。
收集的数据将被分析,图像和缺陷图将由LuminaSoft软件生成。
感兴趣的缺陷可在扫描电子显微镜(SEM)、椭偏仪、显微镜等上进行进一步分析。
将样品放入系统
直径为30微米的绿色激光以50毫米的直线运动,反射光和散射光由四个探测器捕获。
四通道检测
AT1有四个检测通道。它们同时运行以生成四个独立的图像。每个通道有助于检测和分类某些缺陷。
化:薄膜缺陷、污渍
反射率:划痕、内应力*、玻璃内的条纹*
坡度:划痕、凹坑、凸起、表面形貌
暗场:纳米颗粒、包裹体
Lumian AT1和AT1-Auto:AT1采取的样品的大尺寸为300mm,AT1-Auto采取样品的大尺寸为200mm。光斑的大小都在30μm。灵敏度(PSLon玻璃)在150nm;扫描的出结果的时间在4/7/15.5min。
AT1应用案例:
l 透明/非透明材质表面缺陷的检测。
l MOCVD外延生长成膜缺陷管控
l PR膜厚均一性评价
l Clean制程清洗效果评价
l Wafer在CMP后表面缺陷分析
l 多个应用域,如ARVR、Glass、光掩模版蓝宝石、Si wafel等、
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