当前位置: 易推广 > 光学仪器 > 电子显微镜 > 原子力显微镜(AFM) > 北京伊微视科技有限公司 > 产品展示 > 原子力显微镜 > 透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2-EFEM
透明晶圆缺陷扫描Lumina AT2-EFEM
企业档案
会员类型:初级版会员
已获得易推广信誉 等级评定
(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问
(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈
(91+ )优质信誉积累,可持续信赖
易推广初级版会员:1年
最后认证时间:
注册号: 【已认证】
法人代表: 【已认证】
企业类型:代理商 【已认证】
注册资金:人民币500万 【已认证】
产品数:35
参观次数:86128
详细内容
简介:
Lumina AT2-EFEM可以在2分钟内完成300毫米晶圆的扫描,对于基底上下表面的颗粒、凸起、凹陷、划痕、内含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半导体如氮化镓、砷化镓、碳化硅等样品上有独特的优势。也可用于薄膜涂层的成像厚度变化的全表面扫描。
大样品300 x 300 mm。
厂商简介
Lumina Instruments,总部位于美国加利福尼亚州圣何塞,公司创始人在透明、半透明和不透明基板全表面缺陷检测创新了更快速准确的方法,因此创建了革命性的仪器品牌lumina.
技术创新
将样片放入系统中2分钟即可完成扫描。
收集的数据将被分析,图像和缺陷图将由LuminaSoft软件生成。
感兴趣的缺陷可在扫描电子显微镜(SEM)、椭偏仪、显微镜等上进行进一步分析。
将样品放入系统
直径为30微米的绿色激光以50毫米的直线运动,反射光和散射光由四个探测器捕获。
化:薄膜缺陷、污渍
反射率:划痕、内应力*、玻璃内的条纹*
坡度:划痕、凹坑、凸起、表面形貌
暗场:纳米颗粒、包裹体
Lumina AT2-EFEM:采取的样品大尺寸为300mm;光斑的大小在60μm也可以选择30或10μm;灵敏度在300nm为理想;扫描时间在40/50/120s。
AT2应用案例:
l 内部缺陷:在融化阶段,玻璃内含有污染物
l 内应力:生产过程中玻璃内部形成的张力或折射率内部变化。
l 污渍:由于薄膜残留或清洗过程导致表面变色。
联系方式: