仪器介绍


xray镀层无损测厚仪是天瑞集多年的经验，门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。


应用域


黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.


金属镀层的厚度测量, 引线、引脚框架镀层测厚仪，电镀液和镀层含量的测定。


xray镀层无损测厚仪主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和机构；电镀行业。


标准配置


开放式样品腔。


精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。


双激光定位装置。


铅玻璃屏蔽罩。


Si-Pin探测器。


信号检测电子电路。


高低压电源。


X光管。


高度传感器


保护传感器


计算机及喷墨打印机


性能特点


满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求


φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求


高移动平台可测试点，重复定位小于0.005mm


采用高度定位激光，可自动定位测试高度


定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐


xray镀层无损测厚仪鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点


良好的射线屏蔽作用


测试口高度敏感性传感器保护


技术指标


型号：Thick 800A


元素分析范围从硫(S)到铀（U）。


同时可以分析30种以上元素，五层镀层。


镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）


任意多个可选择的分析和识别模型。


相互独立的基体效应校正模型。


引脚框架镀层测厚仪多变量非线性回收程序


度适应范围为15℃至30℃。


电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。


外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm


样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm


重量：90kg

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.