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X光测厚仪
点击次数：521 发布时间：2020/10/20 9:39:52
企业类型:厂家新旧程度:新产地:江苏省苏州昆山市中华园西路1888号测试平台:精密二维移动样品平台，探测器和x光管上下移动，实现三维移动。探测器:Si-Pin探测器的工作原理:利用x射线刺激金属表面，检测荧光强度，换算成金属表层厚度的仪器准直器大小:φ0.1mm的小孔准直器温度要求:15℃至30℃。电源:交流220V±5V建议配置交流净化稳定电源外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm。
Thick8000X光厚度计。
1.仪器概要。
Thick8000X光测厚仪是专门为电镀厚度测量而精心设计的新型高端设备。主要应用于金属镀层厚度测定、电镀液和镀层含量测定金、白金、银等贵金属和各种饰品的含量测定。
2.性能优势。
精密的三维移动平台。
优秀的样品观测系统。
的图像识别。
轻松实现深槽样品的检测。
4种微孔聚焦准直器，自动切换。
双重保护措施，实现无缝防撞。
采用大面积高清探测器，有效降低检测限制，提高测试。
全自动智能控制方式，一键操作！
测试实例。
在保证计数率的情况下，可以有效地区分相似要素，大大提高测试的稳定性，降低测试限制。
Thick8000X光厚度计检测光谱图。
1.仪器概要。
镀膜厚度是镀膜产品的重要技术指标，与产品质量和生产成本有关。Thick800A是天瑞集多年的经验，专门开发镀层行业的薄膜厚度测试仪器，配备移动平台，全自动软件操作，进行多点测试，测试结果更准确。
2.性能优势。
满足各种厚度样品和不规则表面样品的测试需求。
小φ0.1mm的小孔准直器可满足小测试点的需要。
高移动平台可定位测试点，重复定位不足0.005mm。
采用高度定位激光，可自动定位测试高度。
定位激光确定定位光点，确保测试点与光点对齐。
鼠标可以控制移动平台，鼠标点击的位置是测量点。
高分辨率探针使分析结果更加准确。
良好的射线屏蔽作用。
测试口高度敏感传感器保护。
3.技术指标。
元素分析范围从硫(S)到铀(U)之间的任意金属镀层。
可同时分析多达五层镀层。
薄可测试0.005μm。
分析含金量一般为2ppm至99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(因材料而异)
任意多的多种分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
变量非线性回收程序。
长期工作的稳定性很高。
度适应范围为15℃至30℃。
电源:交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸:576(W)x495(D)x545(H)mm。
重量:90公斤。
4.测试实例。
镀镍设备是比较常见的电镀设备，其镍镀层在保护铜基体免受氧化的同时也起到美观的作用。以测试客户铜镀镍样品为例，说明该设备的测试效果。
下边用Thick800A对铜镀镍样本实际测试Ni层厚度，7次結果其标准偏差和相对标准偏差。可以在样品上进行定位测试，其测试位置如图所示。
铜镀镍零件x光厚度计测试图。
样品名称。
成分Ni(%)
电镀Ni(um)
吊起按钮。
100。
19.321。
吊扣2#吊扣2#
100。
19.665。
吊扣3#吊扣3#
100。
18.846。
按钮4#悬挂按钮4#
100。
19.302。
吊扣5#吊扣5#
100。
18.971。
悬挂按钮6#悬挂按钮6#
100。
19.031。
吊扣7#吊扣7#
100。
19.146。
均值。
100。
19.18314。
标准偏差。
0。
0.273409。
相对标准的偏差。
0。
1.425257。
铜镀镍零件的测试值。
结论。
实验表明，使用Thick800AX光厚度计测试电镀膜厚度，结果精度高，速度快(数十秒)，其测试效果完全可与显微镜测试法匹敌。
天瑞仪器作为国内早期开发生产x光厚度计的厂家，在技术、质量方面在国内占优势，打破了海外垄断局面，可与海外产品匹敌。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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