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技术文章
x射线膜厚测厚仪原厂
点击次数：424 发布时间：2020/12/30 16:13:08
x射线膜厚测厚仪产品简介。
工艺参数
体重：90千克。
互不相关的基体效应修正模型
多元非线性回收器。
较长时间稳定工作。
该温度范围为15~30℃。
在硫(S)和铀(U)之间的任何金属镀层中进行元素分析。
多能同时分析5个镀层。
厚度为0.005μm。
涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)
有多种可选的分析与识别模式。
电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。
仪表尺寸：576(W)x495(D)x545(H)mm。
绩效优势
高度可靠：
因试验过程无人为因素干扰，仪器本身的分析、重复性和稳定性都很高。因此，测量结果更加可靠。
符合各种需要：
本测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便，功能强大，能对仪器状态进行监测，设置仪器参数，具有多种的分析方法，而且工作曲线制作方法灵活多样，方便不同客户不同样品的测试需要。
迅速：
在分钟内样品镀层的厚度可以被测得达到测量要求。
无损伤：
试样在试验后没有任何形式的变化。
直觉：
即时的谱图，能直观的显示产品的测点。
简单：
不需要定的人员技术条件，操作简便，且维护简单方便。
物有所值：
与其它同类仪器相比，x荧光镀层测厚仪的整体使用成本较低，能被更多的企业和生产厂家接受。
适用范围。
x射线膜厚测厚仪主要用于金属镀层(镀金，镀镍，镀锡，镀锌，镀铜，镀银，镀铑，镀钯等)的厚度检测，在线路板，五金工具，汽车配件，电子连接器，高压开关，卫浴等企业中得到了广泛的应用和认可。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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