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技术文章
XRF光谱仪
点击次数：457 发布时间：2021/1/2 7:49:24
XRF光谱仪产品介绍
利用XRF探测原理，EDX4500HXRF光谱分析仪可以实现对元素成分的快速、准确、无损分析。
本装置的主要特点是采用智能真空系统，能对Si、P、S、Al、Mg等轻元素产生较好的激发效果，利用XRF技术能对高浓度的Cr、Ni、Mo等重元素进行分析，缩短了冶炼过程控制的测试时间，大大提高了冶炼过程控制的检测效率和工作效率。
此外，在合金分析，全元素分析，有害元素检测等方面都有广泛的应用。萤光光谱仪属于大型光学精密仪器的类。过去，我国主要依赖进口光谱分析仪，而进口光谱分析仪价格昂贵，外汇消耗巨大。于是机厂在75年举办了光电子光谱分析仪器会战，从那时起我国可以自行大量生产大型X荧光光谱分析仪器。虽然结构比较复杂，但X荧光光谱分析仪主要由以下四部分组成：光源、分光器(或称单色器)、接收器(或称检测器)和输出设备。要想充分地利用仪器，获得满意的测试结果，就必须了解仪器各个主要部分的功能和原理。
生产优势。
(1)抽样方式灵活，对稀有和贵金属进行检测和分析可节省抽样所造成的损失。
测试速度高，可以设置多通道瞬时多点采集，并通过计算器实时输出。
对某些机械部件可做无损检测，而不会损坏样品，便于无损检测。
四、分析速度快，比较适合做炉分析或现场分析，以实现快速检测。
5.分析结果的准确性基于标样的化学分析结果。
光谱分析器的缺点
(1)对于非金属和金属与非金属之间的界限，很难准确探测。
2.不是作为仲裁分析方法的原始方法，也不是作为国家依据的检验结果。
三、由于各企业产品相对垄断，采购和维修费用较高，性价比较低。
4.需要大量的有代表性的样品来模拟化学分析，而且显然不适合小量样品测试。
5.模型必须经常更新，当仪器或标准样品发生变化时，模型也必须进行更改。
6.建模的费用很高，试验的费用也较大，当然，对于大量的样品试验，试验的成本量会下降。
7.易受外部或内部因素如光学系统参数的影响，常出现曲线非线性问题，对检测结果的准确性有很大影响。
工艺参数
产品类型：EDX4500H。
商品名：X荧光光谱仪。
从钠(Na)到铀(U)的测量元素范围
同步化元素：可测性数十种元素。
计量时间：30-200。
检测器的能量分辨率：145±5eV。
管子压力：5KV-50KV。
管流：50μA-1000μA。
被测物体状态：粉末，固体，液体。
输入电压：AC110V/220伏特。
周围环境温度：15-30℃。
空气湿度35%-70%
试样室容量：320mm×100mm。
外型尺寸：660mm×510mm×350mm。
体重：65公斤。
标准化配置
高效能超薄窗X光管
SDD硅漂探测器
数字化多重技术
光学增强系统
高信噪比电子线装置
内置式高清摄像机。
自转换式准直器和滤波器。
自动化光谱稳定设备。
第三，安全保护模式。
钢架整体结构可靠。
九十毫米×七十毫米显示液晶屏状态。
真空泵
工作特性。
高效率超薄窗X光管，指标达到水平。
新型数字多道技术使测试速度更快，计数率达到100000CPS，更高。对合金的检测更有效。
SDD硅漂移探测器具有良好的线性能量、能谱和分辨率，峰背比高。
低能量X射线激发待测元素，激发Si,P等轻元素效果较好。
智能化抽气系统，屏蔽空气影响，大大扩展了测试范围。
本实用新型保证了仪器工作的致性。
高信噪比电子线装置。
对于不同的样品，自动切换准直器和滤光片，免除了手工操作的繁琐。
解谱技术使谱峰分解，使得待测元素的分析结果相等。
采用多参数线性回归分析方法，可显著抑制元素间的吸收和强化作用。
内置式高清摄像机。
液晶显示屏让仪器的重要参数(管压，管流，真空度)目了然。
适用范围。
X-荧光光谱仪测定合金，全元素分析，有害元素(RoHS，卤素)测定
制造商简介
江苏天瑞仪器股份有限公司是生产X荧光测厚仪、液相色谱质谱仪(LCMS)、五金镀层测厚仪、x射线测厚仪、ROHS测厚、手持ROHS光谱、手持合金分析仪、ROHS测厚设备、电镀层测厚仪、五金镀层测厚仪、天瑞ROHS仪、X射线镀层仪的企业。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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