XRF膜厚仪_技术文章_江苏天瑞仪器股份有限公司.

XRF膜厚仪用于测量金、镍、铜、银等金属镀层厚度的标准设备。检测镀层厚度也有定的要求，镀层厚度要求分散能力具有比较性质，其比较标准是初次电流分布。镀层厚度要求在零件上均匀分布的能力越高，这种镀液的分散能力越好。平整能力(即微观分散能力)是指在底层形成镀层时，由天瑞仪器生产的THICK8000镀膜厚度计(金属镀膜厚度计)打破国外垄断局面，打破国产分析仪器。

技术指标。

分析要素范围:硫(s)~铀(u)

同时检测要素:多24个要素，多5层镀层。

分析含量:般为2ppm至99.9%

镀层厚度:般在50μm以内(各材料不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV。

的微孔直线技术:小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm。

样品观察:配备全景和局部两个工业HD照相机。

准直接器:0.3×0.05毫米、φ0.1毫米、φ0.2毫米和φ0.3毫米四种准直接器组合。

仪器尺寸:690(W)x575(D)x660(H)mm。

样品室尺寸:520(W)x395(D)x150(H)mm。

样品台尺寸:393(W)x258(D)mm。

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s速度333.3mm/s。

X/Y/Z平台重复定位:0.1um以下。

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃。

工作原理。

薄膜厚度计又称薄膜厚度计、薄膜厚度计，分为磁感应镀层厚度计、涡流镀层厚度计和荧光x射线计镀层厚度计。其主要测量方法是采用磁感应原理时，利用从测量头通过非铁磁复层流入铁磁基体的磁通大小来测量复层厚度。也可以测量对应的磁阻的大小，表示其复盖层的厚度。

磁性厚度测定法的薄膜厚度测定器是超小型测定器，迅速、无损伤，可以在铁磁性金属基体上涂装。电镀层厚度的测量。广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商业检查等检查域。特别适用于工地测量。

二次荧光法厚度计的原理是物质在x射线或粒子射线下照射后，吸收多馀的能量变得不稳定。从不稳定的状态回到稳定的状态，这必须释放多馀的能量，此时以荧光和光的形态释放。荧光x射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理是测量释放的荧光能量和强度，进行定性和定量分析。

镀膜厚度计的性能优势。

1、精密的三维移动平台。

2、出色的样品观测系统。

3.的图像识别。

4.轻松实现深槽样品的检测。

5、四种微孔聚焦准直器，自动切换。

6.双重保护措施，实现无缝防撞。

7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检测限制，提高测试。

全自动智能控制方式，键操作！

接通电源自动检查、复位

打开盖子自动退出样品台，升起z轴测试台，放样方便

盖子推进样品台，降低z轴测试台，自动完成对焦

直接点击全景或局部景图选择测试点；

点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.

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