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技术文章
膜厚测试仪xray
点击次数：392 发布时间：2021/3/1 9:47:59
膜厚测试仪xray介绍产品。
膜厚测试仪xray是种无损、快速测厚的仪器，主要用于对金属镀层厚度进行分析，天瑞仪器是x-ray膜厚测试仪品牌产品的国内生产商，分析仪器公司上市(股票代码：300165)。
适用优势。
无损伤、快速测量各种电镀层厚度。
二、xray薄膜厚度测试仪器的镀层可以是单/双/三层。
三、镀金、镀银、镀镍、镀铜等均可测量。
有电镀液成分分析软件和金属成分分析软件等。
五、易于操作/维护。
准直器程控交换系统多个可以同时装配6个规格的准直器，程序交换控制。
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技术性指标
硫(S)~铀(U)的分析元素范围
元素同时检测：24个元素多达5层镀层。
xray薄膜厚度试验机的镀层厚度：般在50微米以内(每种材料各不相同)
SDD探测器：分辨率为135eV。
微孔准直技术：小孔直径可达0.1mm，小孔直径0.1mm。
样机观测：配有全景和局部工业高清摄像机。
准直器：由四种准直器组成：0.3×0.05mm，Ф0.1mm,0.2mm和0.3mm。
xray薄膜厚度试验机仪器尺寸：690(W)x575(D)x660(H)mm。
样箱尺寸：520(W)x395(D)x150(H)mm。
样机尺寸：393(W)x258(D)mm。
平台移动速度：X/Y/Z：额定速度200mm/s，速度333.3mm/s。
XY/Z平台重复定位：小于0.1um。
xray薄膜厚度试验机工作环境湿度：≤90%
工作环境温度：15~30℃。
绩效优势
、精密三维移动平台。
二是优秀的样本观察系统。
三、高图像识别。
四、容易实现深部槽样检测。
四种微孔聚焦准直仪，可自动切换。
6.采取双重保护措施，无缝防撞。
七、xray膜厚测试仪采用大面积高分辨率探测器，能有效降低检出限，提高检测效果。
智能全自动控制方式，键操作！
开关自动自检，复位；
打开盖子，自动离开试样台，提升Z轴试验台，便于放样；
关闭盖式推进样机，下降Z轴测试平台，自动完成聚焦；
在全景或局部景图像上直接点击选择测试点；
单击测试界面的测试按钮，测试自动完成并结果显示。
运行方式。
当个电子在轨道上游离时，其它能阶的电子就会自然地跳跃到稳定的位置，这种不同能阶转换的过程可以释放能量，也就是X-射线。由于每个元素的每个原子都具有不同的能阶，因此每个元素轨道之间的能阶差也是样的。
以下可以描述X-射线荧光(x-ray)的性质：如果产生X-射线荧光是因为转移电子进入K轨道而预先游离了K轨道上的电子，而另个电子则取代了他的位置，这就是K辐射。各种能阶转换出不同的能量，例如，Kα辐射是种电子从L轨道跳到K轨道的辐射，Kβ辐射是种电子从M轨道跳到K轨道的辐射，在这种辐射中存在着差异。如果X-射线荧光是电子跳进L的空轨域，这种辐射就叫做L辐射。相同的L辐射可以被分为Lα辐射，这是由M轨道电子跳入L轨道和由N轨道电子跳入L轨道所致。因为Kβ辐射能是Kα的11%，而Lβ辐射能是Lα的20%左右，所以很容易用Lα和Lβ能量来区分。
原子性是由原子序决定的，也就是质子数和轨道中电子数，也就是X射线能量与原子序之间的关系如图所示。与L相比，K辐射的能量要高得多，不同的原子序也会产生不同的能量差。
比例计数器可以检测出特定的X-射线。在比例器中受到辐射时，即转换成近年来的脉波。回路输出脉冲高度与能量冲击大小成比例。特定物质发射出的X-射线可以在随后的鉴别电路中记录下来。
利用X-射线荧光测厚法对被测物进行测厚，使待测部位受X-射线照射。在这个时候，特定的X-射线将由镀膜、材料和任何层中间层产生，而检测系统将它转换成比例的电子信号，并用仪器记录下来，通过测量X-射线的强度可以得到镀膜厚度。
某些情况下，例如：印刷线路板上的IC线，接触针和导体的部件等测量要求较高，通常镀膜厚度的测量基本上需要满足以下要求：
、无损伤下具测量精度高。
2.测量面积小。
三、中间镀层的成分和材料对测量值无影响。
四、同时且互不干扰的测量表层和中层涂层。
五、双合金厚度和成分的同时测定法。
而且膜层厚度测试仪，x-ray法不受原料和中间膜的影响，可以获得高精度的测量结果。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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