X射线光谱测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。X射线光谱测厚仪定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
X射线光谱测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。它是一种功能齐全的仪器设备，具备专业的开发软件，在建筑涂料领域能够说成一个展现。

性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精密移动平台能够精确定位测试用例，反复精度等级低于0005毫米
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
X射线光谱测厚仪定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号：Thick800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9%。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
X射线光谱测厚仪相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H)mm
重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。
高精密2d挪动取样服务平台，探测仪和X射线管左右挪动，完成3d挪动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。
X射线光谱仪厚度计关键用以贵重金属生产加工和珠宝加工行业；金融机构、珠宝销售和检测中心；电镀工艺行业。