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公司新闻
x荧光厚度测厚仪@江苏天瑞新闻
点击次数：549发布时间：2020/11/12
x荧光厚度测厚仪企业类型：制造商新旧程度：全新产地：江苏省苏州昆山市中华园西路1888号试验台：精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下移动，实现三维移动。检测器：光学检测器工作原理：用x射线激发金属表面，检测到荧光强度，并将其转换为金属表层厚度的仪器准直器尺寸：φ0.1mm小孔准直器温度要求：15℃至30℃。建议配置的交流220V±5V净化稳压电源外观尺寸576(W)×495(D)×545(H)mm。
X荧光厚度计
电镀行业的全面解决方案。
在国民经济中，电镀是不可缺少的基础工艺，同时也是污染严重的行业。由电镀产生的废气、废水、废渣严重影响着人们的生活和健康。为了提升电镀企业的实力，企业必须从硬件入手。但内部控制检测是必不可少的环节，产品膜层厚度检测，RoHS有害元素检测，电镀液分析，电镀工业废水，废渣中重金属的检测，水质在线检测等等都是重中之重。针对这一问题，江苏天瑞仪器仪表有限公司基于自身强大的研发和应用能力，特别为电镀行业开发了一套有效的测试方案。
涂层厚度检测：有效地对涂层厚度进行产品质量控制。
镀液分析：检测镀液的成分和浓度，以保证镀层质量。
水质在线监测：对电镀工业废水中有害物质含量进行有效监测，已达到排放标准。
有害元素RoHS检测：电镀产品符合RoHS标准，严格的质量保证。
重金属和槽液杂质检测：能有效地检测电镀成品和电镀废水、废液中的重金属含量。
二是天瑞仪器公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中的应用，针对以上五个需求：
(1)、能对镀层厚度进行检测，并能对镀液进行精确分析；
(2)、RoHS有害元素检测，重金属检测，槽液杂质检测，在线水质监测，可快速检测环境中重金属超标情况。
具备下列特征。
速度快：1分钟即可测得样品镀层厚度，达到测量要求。
便捷性：X荧光分光光度计部分型号采用的电制冷半导体探测器，能量分辨率优于135eV，测试性能更好。且无需液氮制冷，无需液氮定期补充，操作使用更加方便，且运行成本低于同类产品。
无损伤：试验前和试验后样品均无变化。
直觉：实时的光谱，能直观的显示元素的含量。
检测范围广泛：X荧光光谱仪，是一种不依赖于样品化学结合状态的物理分析方法。对于具有相同化学性质的元素，也能进行分析，抽真空可以检测出从Na到U。
可信度高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器本身具有较高的分析重复性和稳定性。因此，测量结果更加可靠。
本测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便，功能强大，能对仪器状态进行监测，设定仪器参数，就有多种的分析方法，曲线制作方法灵活多样，方便不同客户不同样品的测试需要。
性能价格比：相对于化学分析仪器，X荧光光谱仪在整体使用成本上具有优势，能被更多的企业和厂家接受。
简单易行：对人员技术要求不高，操作简便，易于维护。
三、天瑞一直致力于分析仪器的研发，相信天瑞将为电镀行业提供更具竞争力的解决方案和服务。
作为一家集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供于一体的综合仪器供应商，天瑞仪器始终严格遵循“360°优质服务”的客户服务理念，以提高客户满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等方面为客户提供全方位的优质服务。
我们为客户提供全过程、全系列的服务，包括技术咨询，方案设计，技术交流，产品制作，系统集成，现场勘察，工程实施，技术培训，服务热线，故障处理，回访，巡检等。这不仅使客户体验到天瑞仪器的优质服务，更为客户创造更高的价值。
"迅速、准确、到位"服务。
交货期短。
快速安装
维护周期短。
x荧光厚度测厚仪长期保修
个人化服务
维修成本
镀膜层厚度检测系统。
8000x型荧光测厚仪。
一、仪器概况。
荧光厚度测厚仪是为测量镀层厚度而精心设计的一种新型高端仪器。本发明主要用于：金属镀层的厚度测量，电镀液及镀层含量的测定，金，铂，银及其他贵金属及各种首饰的含量测定。
二是性能优势。
高精度三维移动平台。
优秀的样本观察系统。
高级图像识别。
易于实现深部槽样检测。
自动切换的四种微孔聚焦准直器。
双管齐下，实现无缝防撞。
大面积高分辨率探测器的使用，有效降低了检出限，提高了检测效果。
自动化智能控制模式，一键操作！
打开后自动退出自检，复位。
打开盖子，自动离开试样台，提升Z轴测试台，便于放样。
关闭密封推进试样台，下降Z轴测试平台，自动聚焦。
选择测试点直接点击全景或局部景图像。
按软件界面测试按钮，测试自动完成，测试结果显示。
三是技术指标。
从硫(S)到铀(U)的分析元素范围
一次探伤元素：多达24个元素，可达五层。
检测极限为2ppm，检测薄板厚度为0.005μm。
涂层厚度：一般为50微米(每种材料不同)，可达0.1%的重复性
稳定度：高达0.1%
SDD探测器：分辨率为135eV。
微孔准直技术，小孔直径可达0.1mm，小光斑可达0.1mm。
样机观测：配有全景和局部工业高清摄像机。
x荧光测厚准直仪：0.3×0.05mm，Φ0.1mm，Φ0.2mm与准直器连接。
四种不同组合的Φ0.3mm准直器。
仪表尺寸：690(W)x575(D)x660(H)mm。
样箱尺寸：520(W)x395(D)x150(H)mm。
样机尺寸：393(W)x258(D)mm。
平台运动速度：X/Y/Z：额定速度200mm/s，速度333.3mm/s。
XY/Z平台重复定位：小于0.1um。
工作环境湿度：≤90%
工作环境温度15~30℃。
四、测试实例。
可以有效地分辨相似元素，保证计数率，大大提高了测试稳定性，降低了检测极限。
Thick8000探测光谱图。
国外仪器检测的国别图谱。
(Au-Cu)所测得的稳定性数据对比如下：
数。
Thick8000
业界其它仪器。
1。
0.042。
0.0481。
2。
0.043。
0.0459。
3。
0.043。
0.0461。
4。
0.0412。
0.0432。
5。
0.0429。
0.0458。
6。
0.0436。
0.0458。
7。
0.0427。
0.0483。
8。
0.0425。
0.045。
9。
0.0416。
0.0455。
10。
0.0432。
0.0485。
11。
0.0422。
0.043。
平均数。
0.0425。
0.0459。
标准差。
0.0007。
0.0019。
比较标准差
1.70%
4.03%
非常糟糕。
0.0024。
0.0055。
800A号。
一、仪器概况。
膜层厚度是电镀产品的一个重要技术指标，它关系到产品的质量和成本。镀层测厚仪是天瑞公司多年研发的一种镀层工业专用测厚仪，配有移动平台，可全自动软件操作，可进行多点测试，测试结果更精确。
二是性能优势。
x荧光厚度测试仪能满足各种不同厚度样品及不规则表面样品的检测要求。
直径小于0.1mm的小孔准直仪可满足微小测试点的要求。
高度在0.005毫米以下的移动平台定位试验，重复定位试验。
利用高度定位激光，对测试高度自动定位。
用定位激光器定位光斑，确保测试点与光斑一致。
滑鼠控制移动平台，滑鼠点击的位置即为被测点。
高分辨探针使分析结果更精确。
光线屏蔽效果好；
高灵敏度检测器保护装置。
三是技术指标。
在硫(S)和铀(U)之间的任何金属镀层中进行元素分析。
*多能同时分析5个镀层。
厚度为0.005μm。
涂层厚度通常在50微米以内(每种材料各不相同)
有多种可选的分析与识别模式。
互不相关的基体效应修正模型
一种多变量非线性的荧光厚度测定程序。
较长时间稳定工作。
该温度范围为15~30℃。
电力供应：交流220V±5V，建议配有交流净化稳定电源。
仪表尺寸：576(W)x495(D)x545(H)mm。
体重：90千克。
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