X射线光谱测厚仪
价格：￥198000
品牌名称：江苏天瑞仪器股份有限公司(进口品牌)型号：THICK8OOA 原产地：中国大陆 发布时间：2020/8/25 10:47:20更新时间：2024/12/26 9:37:44
产品摘要：X射线光谱测厚仪Thick800A是一款运用普遍的能量色散型X射线荧光分析仪，应用大铍窗纤薄对话框高像素的SDD探测仪，其探测仪屏幕分辨率为139eV，处在性优秀水准；样品观查系统软件选用CCD监控摄像头、数据多道解析器、激光器精准定位及其自主研发的用型测厚分析系统，各类指标值均合乎有关技术标准，技术性达性优秀水准。
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ROHS分析仪
详细内容
产品简介
X射线光谱测厚仪的应用剖析，有必须的顾客能够 认真阅读一下，下列请追随我一起来阅读吧。涂层的薄厚决策了零件的抗腐蚀、装饰设计实际效果、地面防滑耐磨损工作能力，务必依据设计方案规定实际操作，确保涂层薄厚。
是能谱分析方式 ，归属于物理学统计分析方法。样品在遭受X射线直射时，在其中所含涂层或底材原材料元素的分子遭受激起后会发送出分别的特点X射线，不一样的元素有不一样的特点X射线；探测仪检测到这种特点X射线后，将其光信号变化为仿真模拟电子信号；历经仿真模拟数据SPWM将仿真模拟电子信号变换为模拟信号并送进电子计算机开展解决；电子计算机特有的独特系统软件依据获得的谱峰信息内容，根据数据处理方法测量出被测涂层样品中常含元素的类型及各元素的涂层薄厚。
它能检测出普遍金属材料涂层薄厚，不用样品预备处理；剖析时间较短，仅为数十，就可以剖析出各金属材料涂层的薄厚；剖析精确测量采样率宽，可从0.005μm到60μm。
迅速、精确、简单、好用等优势，普遍用以涂层薄厚的精确测量、电镀工艺液浓度值的精确测量。
仪器设备详细介绍
仪Thick800A是一款运用普遍的能量色散型X射线荧光分析仪，应用大铍窗纤薄对话框高像素的SDD探测仪，其探测仪屏幕分辨率为139eV，处在性水准；商品选用上照式设计方案，多种防电磁辐射保护设备及其X射线产生器，使个人辐射剂量符合国家要求；样品观查系统软件选用CCD监控摄像头、数据多道解析器、激光器定位及其自主研发的用型测厚分析系统，各类指标值均合乎有关技术标准，技术性达性水准。
优势概述
X射线光谱测厚仪为电子器件半导体材料、五金电镀工艺、印刷电路板、饰品腕表、检测组织 等域量身定做打造出的仪器设备。XYZ三个可调整方位、样品观查系统软件和激光器定位促使检测更便捷。超大型的检测室内空间，优良的排热实际效果和抗电磁干扰能力，模块化设计的总体设计使安裝、调节、维护保养更便捷，可融入端办公环境
电镀工艺应用域
铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑料常规－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
精确测量规范
1国家标准GB/T16921-2005/ISO3497：2000
金属材料土壤层土壤层薄厚精确测量X射线光谱仪方式
2.标准A754/A754M-08
CoatingWeight（mass）ofMetallicCoatingsonsteelbyX-RayFluorescence
运用优点
1迅速：一般精确测量一个样品只必须10S～60S，样品并不解决或开展简易解决；
2高质量：物理学精确测量，不更改样品特性；
3精确：对样品能够 剖析；
4形象化：形象化的剖析谱图，元素遍布一幕了解，定性研究速度更快；
5环境保护：检测全过程中不造成一切有机废气、污水。
特性特性
考虑各种各样不一样薄厚样品及其不规律表层样品的检测要求
φ0.毫米的小圆孔准直器能够 考虑细微测试用例的要求
高移动应用平台可定位测试用例，反复定位低于0.005毫米
X射线光谱测厚仪选用高宽比定位激光器，可全自动定位检测高宽比
定位激光器明确定位光点， 测试用例与光点两端对齐
电脑鼠标可操纵移动应用平台，鼠标单击的部位便是被测量点
高像素摄像头使剖析結果更为精确
优良的放射线屏蔽掉功效
检测口高宽比敏感度感应器维护
性能指标
仪器设备：X莹光镀层测厚仪
型号规格：Thick800A
外观规格：576(W)×495(D)×545(H)mm
样品室规格：500(W)×350(D)×140(H)mm
样品台规格：230(W)×210(D)mm
Z轴液压升降平台升降机范畴：0～140Mm
服务平台挪动检测范围：50毫米(W)×500mm(D)×135毫米(H)
统计分析方法：FP与EC法适配能量色散X荧光分析方式
精确测量元素范畴：原子序数为16S～92U中间的元素均可精确测量
另外检测元素可另外剖析多24个元素，五层涂层
方法检出限：金属材料涂层剖析达到0.005μm
薄厚范畴：剖析涂层薄厚一般在50μm之内（每个原材料各有不同）
性：数次精确测量可重复性达到1%
检测時间：30-60
探测仪及屏幕分辨率：25mm2Be对话框SDD探测仪，屏幕分辨率140±5eV
激起源：50KV/1000uA-W靶X光管及直流高压电源
多道解析器：DMCA数据多道剖析技术性，剖析道数4096道
准直器和滤色片固定不动Ф0.3mm准直器，可选装别的直径，Al滤色片
定位：服务平台电动机反复定位低于0.1um
样品观查：配置CCD多彩摄像头，图像放大达到40倍，完成细微样品清楚定位。
服务平台性：Z轴测试平台选用恒力弹簧均衡作用力，完成服务平台的恒立升降机，合理减少Z轴电动机负载，并合理确保了Z轴的平整度。
安全系数双向安全性维护设备：防滑激光器检测器与样品通道门启闭感应器；关机没有辐射，工作中时辐射源水准远小于性检测标准，且手机软件联动设备。
实际操作自然环境温度湿度：15℃～30℃，≤70%
仪器设备净重：90kg
工作中开关电源：沟通交流380V±9V,提议配备沟通交流清洁可调稳压电源
标准配备
敞开式样品腔。
高精密二维挪动样品服务平台，探测仪和X光管左右移动，完成三维挪动。
双激光器定位设备。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测仪。
数据信号检测电子线路。
高压低压开关电源。
X光管。
高宽比感应器
维护感应器
电子计算机及彩色打印机
手机软件优点
选用企业能量色散X莹光FpThick手机软件，的FP法和EC法等多种多样方式 置入的个性化系统软件，高灵敏、检测时间较短、一键智能化系统实际操作。谱图地区选用动态性方式，检测时元素观查更形象化。
多种多样测试模式设定和无尽数量方式随意加上，内嵌抗压强度校准方式 ，可校准几何图形情况不一样和构造相对密度不匀称的样品导致的误差。
安裝规定
1工作温度规定：15℃-30℃
2自然环境空气湿度：<70%
3工作中开关电源：沟通交流220±9V
4周边不可以有强干扰信号。
售后服务确保
1.仪器设备开展终生检修；
2.软件更新：若有软件更新，承包方将出示软件更新，已不扣除升級花费；
3.技术咨询的回应限期：出示合理的技术咨询
主要用途
金属材料涂层的薄厚精确测量,电镀工艺液和涂层成分的测量。
关键用以贵重金属生产加工和珠宝饰加工域；金融机构，饰品市场销售和检测组织 ；电镀工艺域。
X射线光谱测厚仪的应用剖析，有必须的顾客能够 认真阅读一下，下列请追随我一起来阅读吧。涂层的薄厚决策了零件的抗腐蚀、装饰设计实际效果、地面防滑耐磨损工作能力，务必依据设计方案规定实际操作，确保涂层薄厚。
是能谱分析方式 ，归属于物理学统计分析方法。样品在遭受X射线直射时，在其中所含涂层或底材原材料元素的分子遭受激起后会发送出分别的特点X射线，不一样的元素有不一样的特点X射线；探测仪检测到这种特点X射线后，将其光信号变化为仿真模拟电子信号；历经仿真模拟数据SPWM将仿真模拟电子信号变换为模拟信号并送进电子计算机开展解决；电子计算机特有的独特系统软件依据获得的谱峰信息内容，根据数据处理方法测量出被测涂层样品中常含元素的类型及各元素的涂层薄厚。
它能检测出普遍金属材料涂层薄厚，不用样品预备处理；剖析时间较短，仅为数十，就可以剖析出各金属材料涂层的薄厚；剖析精确测量采样率宽，可从0.005μm到60μm。
迅速、精确、简单、好用等优势，普遍用以涂层薄厚的精确测量、电镀工艺液浓度值的精确测量。
仪器设备详细介绍
仪Thick800A是一款运用普遍的能量色散型X射线荧光分析仪，应用大铍窗纤薄对话框高像素的SDD探测仪，其探测仪屏幕分辨率为139eV，处在性水准；商品选用上照式设计方案，多种防电磁辐射保护设备及其X射线产生器，使个人辐射剂量符合国家要求；样品观查系统软件选用CCD监控摄像头、数据多道解析器、激光器定位及其自主研发的用型测厚分析系统，各类指标值均合乎有关技术标准，技术性达性水准。
优势概述
X射线光谱测厚仪为电子器件半导体材料、五金电镀工艺、印刷电路板、饰品腕表、检测组织 等域量身定做打造出的仪器设备。XYZ三个可调整方位、样品观查系统软件和激光器定位促使检测更便捷。超大型的检测室内空间，优良的排热实际效果和抗电磁干扰能力，模块化设计的总体设计使安裝、调节、维护保养更便捷，可融入端办公环境
电镀工艺应用域
铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑料常规－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
精确测量规范
1国家标准GB/T16921-2005/ISO3497：2000
金属材料土壤层土壤层薄厚精确测量X射线光谱仪方式
2.标准A754/A754M-08
CoatingWeight（mass）ofMetallicCoatingsonsteelbyX-RayFluorescence
运用优点
1迅速：一般精确测量一个样品只必须10S～60S，样品并不解决或开展简易解决；
2高质量：物理学精确测量，不更改样品特性；
3精确：对样品能够 剖析；
4形象化：形象化的剖析谱图，元素遍布一幕了解，定性研究速度更快；
5环境保护：检测全过程中不造成一切有机废气、污水。
特性特性
考虑各种各样不一样薄厚样品及其不规律表层样品的检测要求
φ0.毫米的小圆孔准直器能够 考虑细微测试用例的要求
高移动应用平台可定位测试用例，反复定位低于0.005毫米
X射线光谱测厚仪选用高宽比定位激光器，可全自动定位检测高宽比
定位激光器明确定位光点， 测试用例与光点两端对齐
电脑鼠标可操纵移动应用平台，鼠标单击的部位便是被测量点
高像素摄像头使剖析結果更为精确
优良的放射线屏蔽掉功效
检测口高宽比敏感度感应器维护
性能指标
仪器设备：X莹光镀层测厚仪
型号规格：Thick800A
外观规格：576(W)×495(D)×545(H)mm
样品室规格：500(W)×350(D)×140(H)mm
样品台规格：230(W)×210(D)mm
Z轴液压升降平台升降机范畴：0～140Mm
服务平台挪动检测范围：50毫米(W)×500mm(D)×135毫米(H)
统计分析方法：FP与EC法适配能量色散X荧光分析方式
精确测量元素范畴：原子序数为16S～92U中间的元素均可精确测量
另外检测元素可另外剖析多24个元素，五层涂层
方法检出限：金属材料涂层剖析达到0.005μm
薄厚范畴：剖析涂层薄厚一般在50μm之内（每个原材料各有不同）
性：数次精确测量可重复性达到1%
检测時间：30-60
探测仪及屏幕分辨率：25mm2Be对话框SDD探测仪，屏幕分辨率140±5eV
激起源：50KV/1000uA-W靶X光管及直流高压电源
多道解析器：DMCA数据多道剖析技术性，剖析道数4096道
准直器和滤色片固定不动Ф0.3mm准直器，可选装别的直径，Al滤色片
定位：服务平台电动机反复定位低于0.1um
样品观查：配置CCD多彩摄像头，图像放大达到40倍，完成细微样品清楚定位。
服务平台性：Z轴测试平台选用恒力弹簧均衡作用力，完成服务平台的恒立升降机，合理减少Z轴电动机负载，并合理确保了Z轴的平整度。
安全系数双向安全性维护设备：防滑激光器检测器与样品通道门启闭感应器；关机没有辐射，工作中时辐射源水准远小于性检测标准，且手机软件联动设备。
实际操作自然环境温度湿度：15℃～30℃，≤70%
仪器设备净重：90kg
工作中开关电源：沟通交流380V±9V,提议配备沟通交流清洁可调稳压电源
标准配备
敞开式样品腔。
高精密二维挪动样品服务平台，探测仪和X光管左右移动，完成三维挪动。
双激光器定位设备。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测仪。
数据信号检测电子线路。
高压低压开关电源。
X光管。
高宽比感应器
维护感应器
电子计算机及彩色打印机
手机软件优点
选用企业能量色散X莹光FpThick手机软件，的FP法和EC法等多种多样方式 置入的个性化系统软件，高灵敏、检测时间较短、一键智能化系统实际操作。谱图地区选用动态性方式，检测时元素观查更形象化。
多种多样测试模式设定和无尽数量方式随意加上，内嵌抗压强度校准方式 ，可校准几何图形情况不一样和构造相对密度不匀称的样品导致的误差。
安裝规定
1工作温度规定：15℃-30℃
2自然环境空气湿度：<70%
3工作中开关电源：沟通交流220±9V
4周边不可以有强干扰信号。
售后服务确保
1.仪器设备开展终生检修；
2.软件更新：若有软件更新，承包方将出示软件更新，已不扣除升級花费；
3.技术咨询的回应限期：出示合理的技术咨询
主要用途
金属材料涂层的薄厚精确测量,电镀工艺液和涂层成分的测量。
关键用以贵重金属生产加工和珠宝饰加工域；金融机构，饰品市场销售和检测组织 ；电镀工艺域。
