很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀，但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的，合格的产品才会被销往市场上，目国产镀层测厚仪已经发展的比较完善，现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的，那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么：
1、基体金属特性：对于磁性方法，国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似，所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面；
2、基体金属厚度：国产镀层测厚仪在使用之要检查基体金属厚度是否*过临界厚度，如果没有，进行校准后可以测量；

3、中磷镍厚度测试仪边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量；

4、曲率：对于曲率的测量，不应在试件的弯曲表面上测量，使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的，曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量；
5、读数次数：通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不相同，因此**在每一测量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时*应如此；
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度，测量，应表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，*国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰，因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候，此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向，测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直。
镀层测厚仪关键有以下功能优点：
1、测量速度快，具有单次和连续2种测量方式可选择；
2、精度高 ，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质；
3、镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示；
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法：覆层厚度的测量方法关键有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

中磷镍厚度测试仪技术参数：外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm；样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ；测试时，可开盖，对样品长度无限制；检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。样品台尺寸：230(W)×210(D)mm；范围：50(X)mm， 50(Y)mm；Z轴升降平台升降范围：0-140mm；2、仪器重量：90kg；3、SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V；探头窗口面积：25mm-2－－-；探头窗口厚度：0.5mil分辨率：140±5eV；；探头内制冷温度：<-40℃；4、X射线光管：管压：5-50kV；管流：0-1；材：W；窗口：窗制冷方式：风冷；工作温度：≤75℃；5、高压发生器：输入电压：24V；输入电流：**；管压：0-50kV；管流：0-2；灯丝电压：5V;灯丝电流：3.**;;6、MCA多道分析器：;输入电压：±12V，+5V;;采样频率：100 KHZ

中磷镍厚度测试仪快门类型：面阵;光学尺寸：1/4英寸;像素：659(H)×494（V）;像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：;感应度：0.58V（索尼标准）;颜色排列：RGB;帧率：30fps;快门速度：1/1538-1/30（）;9、自动对焦系统：通用数字激光传感器、CMOS激光传感器;
实现样品高度的自动对焦。
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行*检测，检测环境里的重金属是否*标。
同时具有以下特点
*：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口*上的电制冷半导体探测器，能量分辨率***eV，测试精度*高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用*加方便，并且运行成本比同类的其他产品*低。
无损：测试后，样品无任何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

   天瑞仪器不断探究分析域的端。为客户提供产品和满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供完善的行业整体解决方案。