铜镀银膜厚测量仪

俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等；

功能：***测量金属电镀层的厚度；

铜镀银膜厚测量仪应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从12(Mg)到92(U);

可同时分析5 层镀层厚度 ;

元素光谱定性分析;

测试方法***符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

铜镀银膜厚测量仪应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等院校等；

进口的高功***压单元搭配微聚焦的X光管，***的***了信号输出的效率与稳定性。 

相比普通版的EDX 600，EDX 600 PLUS采用了更为***的高分辨率FAST SDD探测器，其分辨***达140EV，能***的将不同元素的信号解析，针对多镀层与复杂合金镀层的测量，有着不可比拟的***。

在准直器的选择上，EDX 600 PLUS也有着很大的***，相较于普通的EDX600，

它可以搭配的准直器更小：0.1*0.2mm,φ0.15mm;φ0.2mm；φ0.3mm等等。

用超小的准直器得到的超小光斑，让更小样品的测量也变得游刃有余。

搭配双屏显示界面，让仪器的使用人员即使不观察电脑屏幕，也能直接一键测量。

***的下照式设计，一键式的按钮，***减少摆放样品时间。 ***的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。 搭配高分辨率可变焦摄像头，配合***距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的***测试。

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。 曲线的中文备注，让您的操作更易上手。 仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。