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x-ray膜厚检测仪

THICK800Ax-ray膜厚检测仪

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价格：￥218000

品牌名称：江苏天瑞仪器股份有限公司(进口品牌)型号：THICK800A 原产地：中国大陆发布时间：2024/1/26 11:20:08更新时间：2024/10/25 8:33:36

产品摘要：X-ray膜厚检测仪，作为一种的表面分析仪器，正逐渐成为各行业的必备工具。它通过应用X射线技术，可以非常准确地测量材料的薄膜厚度，广泛应用于电子、光电、化工、材料等多个域。

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详细内容

X-ray膜厚检测仪：快速、、的表面分析利器

X-ray膜厚检测仪，作为一种的表面分析仪器，正逐渐成为各行业的必备工具。它通过应用X射线技术，可以非常地测量材料的薄膜厚度，广泛应用于电子、光电、化工、材料等多个域。

高精度的膜厚测量

X-ray膜厚检测仪采用的X射线衍射原理，能够实现对薄膜厚度的高精度测量。它能够精确到纳米别，甚至更高的精度，能够满足各个行业对薄膜厚度测量的需求。无论是对于金属薄膜、陶瓷薄膜、聚合物薄膜，还是其他类型的材料，X-ray膜厚检测仪都能够测量，确保产品质量的稳定性和性。

快速的测量速度

值得一提的是，X-ray膜厚检测仪在测量薄膜厚度的过程中，速度非常快捷，一次测量只需要几钟即可完成。无论是批量生产还是小批量生产，都能够满足快速检测的需求。这不仅大地提高了工作效率，还减少了生产成本和时间成本，为企业带来了明显的经济效益。

丰富的功能和应用域

X荧光金无损镀层测厚仪特点特点
1.上照式
2.高分辨率探测器
3.鼠标定位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.超大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护
X荧光无损镀层测厚仪

技术指标
X荧光金无损镀层测厚仪型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg