膜厚仪天瑞仪器操作流程EDX600 PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验研发的一款下照式结构的电镀层厚度测厚仪。膜厚仪天瑞仪器测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行检测，帮助企业核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

膜厚仪天瑞仪器进口的高功率高压单元搭配微聚焦的X光管，极大的了信号输出的效率与稳定性。

相比普通版的EDX 600，EDX 600 PLUS采用了更为高分辨率FAST SDD探测器，其分辨率高达140EV，能的将不同的元素解析，针对多镀层与复杂合金镀层的测量，有着不可比拟的优势。

在准直器的选择上，EDX 600 PLUS也有着很大的优势，相较于普通的EDX600，它可以搭配的准直器更小∶0.1*0.2mm，φ0.15mm；φ0.2mm；φ0.3mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑，让更小样品的测量也变得游刃有余。

设计亮点

膜厚仪天瑞仪器下照式设计，一键式的按钮，极大减少摆放样品时间。

光路系统，很大程度上减少了光斑的扩散，实现了对更小产品的测试。

配合高性能距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等）的异型测试面的测试。

膜厚仪天瑞仪器软件界面

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。

曲线的中文备注，让您的操作更易上手。

仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

EDX600PLUS与EDX600的技术参数对比

膜厚仪天瑞仪器结论∶经实测，EDX600 PLUS针对镀层厚度分析，尤其是微小样品的厚度检测，有着非常稳定性与精密度，测试效果可以与超高倍数的电子显微镜测试度媲美。