x射线涂层测厚仪Thick800A是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，与普通EDXRF相比，分辨率高，其光路系统集合国内外几十年EDXRF技术，部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，x射线涂层测厚仪所用标准样品均有权威第三方检测机构；采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更，更稳定。

x射线涂层测厚仪外形特点：

● 仪器结构采用人体工程学设计，仪器两侧按成人手臂长度设计，方便移动、搬运。

● 上盖倾斜6度角，寓意对客户的尊重。

● 表面采用汽车喷漆工艺，采用宝蓝、雅致白搭配，蓝色代表科技，白色代表圣洁，寓意对科学的敬仰。

● 可视化样品窗。

● 辐射防护：

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线。

● 辐射标志警示。

●迷宫式结构，防止射线泄漏。

● 安全连锁设计；测试过程中误打开样品盖时，电路0.1μS快速切断X 仪器经权威第三方检测，X射线剂量率符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。

        1.x射线涂层测厚仪外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。
      2.同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。
      3.可以分析多5层镀层，可分析元素多达24种。
      4.无需复杂的样品预处理过程，无损测试。
      5.检出限可达到2ppm。
      6.分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。
      7.
      8.与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。
      10.采用彩色摄像头，观察拍摄样品。
      11.采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，方便。
      12.采用双激光对焦系统，定位测量位置。
      13.高度传感器。
      14.保护传感器，保护探测器。
      15.度高，稳定性好，故障率低。
      16.辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保
      护，辐射安全性。
      17.WINDOWS XP 中文应用软件，独特分析方法，完备强大的功能，操
      作简单，使用方便。

探测器

● x射线涂层测厚仪类型：X123探测器

● Be窗厚度：1mil

● 晶体面积：25mm2

● 分辨率：145eV

● 信号处理系统DP5

X射线管

● 电    压 ：0~50kV

● 电流 ：2.0mA

● 功率 ：50W

● 靶    材 ：Mo

● Be窗厚度 ：0.2mm

● 使用寿命 ：大于2万小时

x射线涂层测厚仪高压电源

● 输出电压：0~50kV

● 灯丝电流：0~2mA

● 功率：50W

● 纹波系数：0.1%（p-p 8小时稳定性：0.05%

摄像头

● 微焦距

● 500万像素

准直器、滤光片

● 快拆卸准直器、滤光片系统

● 多种材质准直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

● 多种滤光片、准直器组合，软件自动切换

其他配件

● 外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）

● 样品仓尺寸 ：360mm×330 mm ×50 mm （长x宽x高）

● 仪器重量   ：33.5kg

● 供电电源 ：AC220V/ 50Hz

● 功率 ：330W

● 工作温度 ：15-30℃

● 相对湿度 ：≤85%，不结露

● 镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；镀层元素含量分析
● RoHS /ELV指令测试元素：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）、Br（溴）

●无卤检测：测试元素：Br（溴）、Cl（氯）；

●合金分析：钢铁、铜类、锌类等成分分析。