产品介绍

Thick800A 天瑞光谱测厚仪是天瑞仪器专门研发用于镀层行业的一款荧光测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手，国内分析仪器上市企业（股票代码：300165）。

天瑞光谱测厚仪标准配置

开放式样品腔。

国产X荧光测厚仪精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

天瑞光谱测厚仪

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机

性能特点

天瑞光谱测厚仪定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加

良好的射线屏蔽作用

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

x-ray膜厚检测仪φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高移动平台可测试点，重复定位小于0.005mm

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号：Thick 800A

分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。

国产X荧光测厚仪分析含量一般为2ppm到99.9%

X荧光测厚仪元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

可同时分析多24个元素，五层镀层。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

天瑞光谱测厚仪外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

天瑞光谱测厚仪应用领域

可以测试黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.

金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。

X荧光测厚仪（国产）主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和机构；电镀企业、半导体企业、电子连接器、五金工具企业、电子电器企业。