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X射线荧光光谱分析仪
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ROHS分析仪
详细内容
X射线荧光光谱分析仪——EDX6000B是天瑞仪器新研发的款仪器,门针对于水泥行业,矿产,ROHS,镀层行业等研发出来的,内置自动移动转盘,可同时测试多个样品,操作简单方便
工作原理
X射线荧光光谱分析仪技术基本理论
X-荧光 物质是由原子组成的,每个原子都有个原子核,原子核周围有若干电子绕其飞行。不同元素由于原子核所含质子不同,围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不样,形成了原子核外不同的电子能。在受到外力作用时,例如用X-光子源照射,打掉其内层轨道上飞行的电子,这时该电子腾出后所形成的空穴,由于原子核引力的作用,需要从其较外电子层上吸引个电子来补充,这时原子处于激发态,其相邻电子层上电子补充到内层空穴后,本身产生的空穴由其外层上电子再补充,直至外层上的电子从空间捕获个自由电子,原子又回到稳定态(基态)。这种电子从外层向内层迁移的现象被称为电子跃迁。由于外层电子所携带的能量要高于内层电子,它在产生跃迁补充到内层空穴后,多余的能量就被释放出来,这些能量是以电磁波的形式被释放的。而这高频电磁波的频率正好在X波段上,因此它是种X射线,称X-荧光。 因为每种元素原子的电子能是特征的,它受到激发时产生的X-荧光也是特征的。 注意,这里的X-荧光要同宝石学中所描述的宝石样品在X射线照射下所发出可见光的荧光概念相区别。
参数规格
X射线荧光光谱分析仪元素分析范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:ppm—99.99%(不同材质,分析范围不同)
同时分析元素:同时可以分析30种以上元素
检测限:RoHS指令规定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限高达ppm
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60—200
工作温度:15℃—30℃
工作湿度:≤70%
工作电压:AC 110V/220V
超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 510×589×350 mm
样品杯尺寸(10个):40.7×26mm
重量:55Kg
产品特点
X射线荧光光谱分析仪业的水泥、钢铁、矿料等元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器。
抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
应用域
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测
热门标签:无损X射线荧光光谱分析仪 X射线荧光光谱分析仪