XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原X射线。所以X射线荧光仍是X射线。台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每种元素。在实际应用中，的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。