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X射线镀层测厚仪
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详细内容
技术指标
型号:x射线镀层测厚仪Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
x射线镀层测厚仪Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
产品介绍
x射线镀层测厚仪Thick800A主要应用于:金属镀层(镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锌,镀锡等)的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测,天来了解下天瑞仪器x射线镀层测厚仪,天瑞仪器是内业X射线镀层测厚仪生产厂家,分析仪器上市公司,,价格更优惠!
性能介绍
设计科学,安稳定
在设备整体设计上打破了传统测厚仪设计模式,机体结构设计科学,更多的添加了人性化设计元素.
操作方便,工作效率高
采用软硬件相配合的方式,通过机电联动实现的运转,提升厚度测量时效,毕竟这种设备主要被使用在镀层生产企业,在使用中势必要满足生产需求。
度高,误差率低
电镀膜厚测量仪在使用中,不仅工作效率快,测量方便,另外测量数据同时也非常,这点离不开设备所采用的X射线荧光检测技术,利用X射线穿透被测物,通过射线穿透的时间确定被测物的厚度,这种测量方式可对大批量物体实现质量(厚度)检测,被测物在检测过程中不会有任何的损伤,测量误差率非常低,正是因为这种性能,使得电镀测量仪被广泛使用在半导体生产行业;
厂家介绍
天瑞仪器成立于1992 年,以研究、生产、销售X 荧光光谱分析仪起步,目从事以光谱仪、色谱仪、质谱仪为主的分析仪器及应用软件的研发、生产、销售和相关技术服务,是内在创业板上市的分析仪器企业。公司产品主要应用于环境保护与安(空气、土壤、水质污染检测等)、矿产与资源(地质、采矿)、商品检验甚至人体微量元素的检验等众多域。
江苏天瑞仪器股份有限公司是业生产ROHS测试仪,液相色谱质谱仪(LCMS),原子荧光光谱仪,x射线测厚仪,ROHS检测设备,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪,ROHS检测仪,液相色谱仪,手持式矿石分析仪,原子吸收光谱仪,X射线荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪,气相色谱质谱联用仪(GCMS), ROHS仪器,手持式合金分析仪等分析仪器,涉及的仪器设备主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。
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