X荧光镀层测厚仪CMI900
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品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号:X荧光镀层测厚仪CMI900
原产地:中国大陆
发布时间:2010/5/14 9:37:14更新时间:2024/12/23 10:41:58
产品摘要:X荧光镀层测厚仪CMI900
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详细内容
CMI900镀层测厚仪特点: - 精度高、稳定性好
- 强大的数据统计、处理功能
- 测量范围宽
- NIST认证的标准片
- 全球服务及支持
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技术参数 |
主要规格 | 规格描述 | X射线激发系统 | 垂直上照式X射线光学系统 | 空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 | 标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 | 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选 | 装备有安全防射线光闸 | 二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 | 准直器程控交换系统 | *多可同时装配6种规格的准直器 | 多种规格尺寸准直器任选: -圆形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时,*小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) | 在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) | 样品室 | CMI900 | CMI950 | -样品室结构 | 开槽式样品室 | 开闭式样品室 | -样品台尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | -XY轴程控移动范围 | 标准:152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 | 300mm x 300mm | -Z轴程控移动高度 | 43.18mm | XYZ程控时,152.4mm XY轴手动时,269.2mm | -XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制 | -样品观察系统 | 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 | 激光自动对焦功能 | 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 | 计算机系统配置 | IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 | 分析应用软件 | 操作系统:Windows2000中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包 | -测厚范围 | 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。 | -基本分析功能 | 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。 | 样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) | 可检测元素范围:Ti22 – U92 | | 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正 | 贵金属检测,如Au karat评价 | | 材料和合金元素分析, | 材料鉴别和分类检测 | 液体样品分析,如镀液中的金属元素含量 | 多达4个样品的光谱同时显示和比较 | 元素光谱定性分析 | -调整和校正功能 | 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 | -测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot” | 多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 | 测量位置预览功能 | 激光对焦和自动对焦功能 | -样品台程控功能 | 设定测量点 | 连续多点测量 | 测量位置预览(图表显示) | | | | | -统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | 数据分组、X-bar/R图表、直方图 | 数据库存储功能 | 任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | -系统安全监测功能 | Z轴保护传感器 | 样品室门开闭传感器 | 操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师 | |