CMI563表面铜厚测试仪专为测量刚性或柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。

CMI563测厚仪采用微电阻测试技术，提供了和精确测量表面铜铜厚（包括覆铜板、化学铜和电镀铜板）的方法。

由于CMI563测厚仪采用了市场上*为的测试技术，印刷电路板背面铜层不会对这款测厚仪测量结果产生影响。

创新性的CMI563铜箔测厚仪配置探针可由用户自行更换的SRP-4探头。相对于整个探头的更换，更换探针更为方便和经济。

CMI563测厚仪可由用户选择所测试的铜箔类型，既化学铜或电镀铜；甚至无需用户校准，即可测量线形铜箔厚度。这款测厚仪配有NIST（美国国家标准和技术学会）认证的校验用标准片，不同厚度供您选购。

技术参数

CMI563便携式面铜测厚仪规格说明：

度：±1% （±0.1 μm）参考标准片

精确度：非电镀铜：标准差0.2 %；

电镀铜：标准差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

铜厚测量范围：

非电镀铜：10 μin – 500 μin （0.25 μm – 12.7 μm）,

电镀铜：0.1 mil – 6 mil （2.5 μm – 152 μm）

线形铜可测线宽范围：8 mil – 250 mil （203 μm – 6350 μm）

存储量：13,500条读数

尺寸：5 7/8英寸（长）×3 1/8英寸（宽）×1 3/16英寸（高） （14.9×7.94×3.02厘米）

重量：9盎司（0.26千克）包括电池

单位：通过一个按键实现英制和公制的自动转换

电池：9伏电池

电池寿命：65小时连续使用

接口：RS-232串行接口，波特率可调，用于下载至打印机或计算机

显示：4数位LCD液晶显示，2数位存储位置，字符高1/2英寸（1.27厘米）

统计显示：测量个数，标准差，平均值，值，*小值。