N8130超高采样率超电容测试仪为NGI公司针对超电容、电池研发和生产而自主设计开发的新代用测试仪器。采样速度高达1mS，充转放过程无缝切换，N8130完全满足超电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N8130支持六步法，IEC62391，QC/T 741等全部主流测试标准，用户可根据需要灵活选。N8130上位机软件支持平台化测试应用，用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件，测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。

产品特点：

■ 电流范围：0-50mA / 500mA / 2A / 10A
■ 电压范围：0-6V
■ 恒流充电、恒流放电、恒压充电、循环寿命、充电容量，放电容量、DCIR(直流等效内阻)等参数测试
■ 采样&通讯传输间隔高达1ms，完全真实还原测试过程数据
■ 充转放过程无缝切换，无过充过放
■ 功能丰富的上位软件，支持生产分选功能
■ 每通道对应状态指示灯，分选更方便
■ 强大的数据存储与分析功能
■ 百兆以太网通讯

功能优势：
容量测量

等效串联内阻(DCIR)测试
N8130具有丰富的直流内阻测量功能，支持业内多种主流DCIR测试方法：多脉冲法、单脉冲法、充转放法、六步测试法、IEC测试法，可满足绝大部分用户测试需求。NGI核心测试技术确保在各种测试方法中获取高精度内阻测量结果。 QC/T 741法直流等效内阻计算公式： 

寿命测试
N8130可通过重复充放电循环测试，测量超电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。

四线制测量功能
超电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N8130全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度。

测试夹(治)具
考虑到不同规模的测试应用场景，NGI提供两种测试夹（治）具供用户选择：开尔文夹、12通道用治具。两种测试夹（治）具均为四线制接法。

测试软件
(1) N8130测试软件采用平台化设计，用户可根据工艺需求自行定制测试流程。
(2) 类Office界面风格，各通道独立显示，支持电压电流波形绘制，可以表格形式显示结果等诸多元素，使得这款业软件在具备强大测试功能同时，兼具美观易用优点。
(3) 设计有功率限制电路，反应时间短，可有效保护负载不会因为过功率而损坏。
(4) 采用全屏蔽技术，对恶劣测试环境具有广泛适应性，有效提高了负载抗干扰能力。

应用域
■ 超电容器研发、生产、品质检测
■ 超电容材料研究
■ 超电容相关其它应用域

产品尺寸

规格参数表：