微泄露密封测试仪-综述

基于真空传感技术，具体测试过程，将leak-S微泄漏密封测试仪主机连接到一个特别设计用来容纳需要被测物的测试腔内。仪器对测试腔进行抽真空，包装物内外形成压力差，在压力的作用下包装物内气体通过漏孔扩散至测试腔内，真空传感器技术检测时间和压力的变化关系，与标准值进行比较，从而判断试样是否泄漏。

包装的体积从几毫升到几升可以测试。测试需要从几秒钟到几分钟的时间。较长的测试时间对于测试更大容量的包是必要的。延长测试周期以允许检测较小的泄漏。测试可以在实验室环境中进行，或者在生产环境中离线进行。允许较长测试时间的实验室或离线测试设备通常能够检测较小的泄漏。更高速度的在线设备通常用于检测较大的泄漏。真空衰减泄漏测试在产品生命周期的各个阶段都是有用的。

技术参数

指标 参数

真空度 0--100kPa

检测孔径精度 ＜3μm

设备操作 自带HMI

内部压力 常压

测试系统 真空传感器技术

真空来源 外接真空泵

测试腔 根据样品定做

检测原理 真空衰减法/无损检测

主机尺寸 500mmX360mmX320mm（长宽高）

重    量 18Kg

环境温度 20℃-30℃

相对湿度 80%,无凝露

工作电源 220V

真空衰减泄漏测试仪器由管道和阀门系统组成，这些管道和阀门将测试室与测试系统压力传感器和外部真空源气动连接。该仪器包括适当的定时器，电子控制和监视器。还可以包括外部气体流量计，用于周期性验证系统性能。测试室设计得独特，能够紧密地容纳测试封装，并且可以适当地装配有工具以限制可移动或柔性封装组件的移动或膨胀。

真空衰减法在测定具有较低黏度的产品包装时，检测是有效、可靠和可重复的，如果产品具有不阻挡泄漏点气流的固体配方，或者它是在测试真空下挥发的液体产品，则可以测试产品填充水平以下的包装表面是否有泄漏。

微泄露密封测试仪-综述

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