IEC 62321标准规定X荧光光谱仪可作为ROHS指令中有害元素的筛选分析仪器，其具备方便快检，操作使用要求 低，样品分析无损等。使用X荧光分析仪器测试RoHS指令时，需要对所测试的样品进行材质判断，根据X荧光分析 样品的特点，将分析样品分为以下六大类，并确定这六类样品中的有害元素在不同测量范围内的偏差范围。EDX1800 系列仪器根据标准要求对测试样品进行自动分类，并可自动匹配相应测试工作区间。同时也可选择人为判断，选取精 准的测试区域。

性能特点

下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的性
新代的高压电源和X光管：性能，高达50W的功率实现高的测试效率

技术指标

元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg

标准配置

移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机

应用域

RoHS检测分析、玩具八大重金属分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测

儿童玩具表面涂料有害重金属分析仪为rohs和涂层表面的有害物质、八大重属金进行测试而设计。里面配置有x荧光曲面晶体进行单色和聚焦处理，的降低了测试背景，使检出限有显著的提高。采用了高清 CCD摄像头进行跟踪测试。
可以对样品中Cd、Pb、Hg、Cr、Ba、Se、As、Sb、Br等元素进行检测。提供人性化的操作界面，操作方便易用。仪器软件有对样品的测试数据、样品高清图片自动保存和编辑的功能。