镀层仪器千倍以上；geng高计数率bao zheng了仪器的性和wen ding 性。
内外双激光，搭载quan zi动高jing度样品移动平台，开盖自动弹出功能，让测试geng省心。双摄广角视频系统，配备gao分辨率的摄像头，图像geng清晰，微小样品jing确ding wei 、jing准分析。

镀层测试方法
X 射线荧光镀层厚度测量是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出的2次X 射线(X射线荧光)的qiang度来测量镀层厚度的方法。通过X 射线荧光qiang度测量镀膜厚度的方法有检量线法和基本参数法(FP 法)。能量色散型X射线荧光镀层测厚仪可在不损坏样品的情况下进行非接触式测量。而且测量时间较短,仅为3-20s。

产品特点
1、结合镀层行业微小样品的检测需求，zhuan门研发适用于镀层检测的chao近光路系统，减少能量过程损耗。 搭载多导毛细管聚焦管，提升了仪器的检测性能，聚焦qiang度提升1000~10000倍，geng高的检测灵敏度和分析jing du 以及高计数率bao zheng测试结果的jing que 性和wen ding 性。


                       一般准直器与多导毛细聚焦管的对比

2、全景+微区双相机设计，呈现quan高清广角视野，让样品观察geng quan mian ；微米别分辨率，geng 好的man zu chao 微产品的测试，让测试geng guang fan geng 便捷。

3、的多导毛细管技术，信号qiang度比金属准直系统高出几个数量。
4、多规格可选的多导毛细管，较好的man zu 用户不同测试需求。

5、gao jing 度XYZ 轴移动测试平台，结合双激光点位定位系统，可实现在样品测试过程中的quan zi 动化感受， 一键点击，测试geng省心。
产品技术参数

产品应用行业：

 
·测量chao微小部件和结构，如：印制线路板、连接器或引线框架等；
· 分析chao薄镀层，如：厚度薄至2nm 的Au 镀层和≤30nm 的Pd 镀层；

· 测量电子和半导体行业中的功能性镀层；
· 分析复杂的多镀层系统；

·quan自动测量，如：用于质量kong zhi ling yu ；

· 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 标准。