表面无损厚度测厚仪,镀层厚度膜厚仪

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品牌名称：天瑞仪器(进口品牌)型号：EDX-V 原产地：中国大陆发布时间：2024/5/21更新时间：2024/11/28

产品摘要：表面无损厚度测厚仪,镀层厚度膜厚仪是天瑞仪器集30多年X荧光膜厚测量技术，研发的一款X射线荧光镀层测厚及成分分析仪。仪器采用多导毛细管X射线光学系统，对于微米尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析，能进行高效、准确的测量。

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表面无损厚度测厚仪,镀层厚度膜厚仪
表面无损厚度测厚仪,镀层厚度膜厚仪采用多导毛细管光学系统，可以实现在ji微小样品测试中获得geng gao的激发qiang度，同等光斑面积下，荧光qiang度是传统X镀层仪器千倍以上；geng gao 计数率bao zheng 了仪器的准确性和wen ding 性。内外双激光，搭载quan zi dong gao jing度样品移动平台，开盖自动弹出功能，让测试geng省心。双摄广角视频系统，配备高分辨率的摄像头，图像geng清晰，微小样品jing 确ding位、分析。

表面无损厚度测厚仪,镀层厚度膜厚仪X射线荧光工作原理

表面无损厚度测厚仪,镀层厚度膜厚仪性能特点

1、结合镀层行业微小样品的检测需求，研发适用于镀层检测的chao近光路系统，减少能量过程损耗。搭载多导毛细管聚焦管，ji大的提升了仪器的检测性能，聚焦qiang度提升1000~10000倍，geng gao 的检测灵敏度和分析jing du 以及gao 计数率bao zheng 测试结果的准确性和wen ding 性。

一般准直器与多导毛细聚焦管的对比

2、全景+微区双相机设计，呈现全高清广角视野，让样品观察geng quan mian ；微米别分辨率，较好的man zu chao微产品的测试，让测试geng guang fan geng 便捷。