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Ag层电镀测厚仪,天瑞仪器企业动态
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ROHS2.0分析仪
适用工厂ROHS检测仪器
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原子吸收分光光度计AAS
液相色谱质谱联用仪LC-MS
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详细内容
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否超标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率优于135eV,测试精度高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用加方便,并且运行成本比同类的其他产品低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与性很高。所以,其测量的性高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可监控仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有的,可以让多的企业和厂接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量般为2ppm到99.9%
镀层厚度般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
工作性高
度适应范围为15℃30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。
铜镀镍件X射线荧光测试谱图
样 品 名 | 成分Ni(%) | 镀层Ni(um) |
吊扣 | 100 | 19.321 |
吊扣2# | 100 | 19.665 |
吊扣3# | 100 | 18.846 |
吊扣4# | 100 | 19.302 |
吊扣5# | 100 | 18.971 |
吊扣6# | 100 | 19.031 |
吊扣7# | 100 | 19.146 |
平均值 | 100 | 19.18314 |
标准偏差 | 0 | 0.273409 |
相对标准偏差 | 0 | 1.425257 |
铜镀镍件测试值
结论
实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果度高,速度快(几十秒),其测试效果完可以和显微镜测试法媲美。