南京X射线ROHS快速光谱检测仪天瑞
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X荧光镀层测厚仪 XRF
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详细内容
产品用途
RoHS是由立法制定的项强制性标准,它的称是《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(Restriction of Hazardous Substances)。该标准已于2006年7月1日开始正式实施,主要用于规范电子电气产品的材料及工艺标准,使之加有利于人体健康及环境保护。该标准的目的在于消除电机电子产品中的铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚共6项物质,并重点规定了铅的含量不能超过0.1%。新指令2011/65/EU(RoHS 2.0)以取代2002/95/EC(RoHS) 新指令已于2011年7月21日生效。
产品相册
性能特点
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的性
新代的高压电源和X光管:性能,高达50W的功率实现高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量般为1ppm到99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:160±5eV
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
标准配置
移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测
检测实例
某键盘的测试谱图
《电子信息产品中有毒有害物质的检测方法》(以下简称《检测方法》,标准号为 SJ/T 11365-2006)对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法(XRF)作为种快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。使用X射线荧光光谱法(XRF)可对铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)以及溴(Br)五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量,也就是说如果这种筛选测试得到铬(Cr)或溴(Br)的含量,即使他们超标也并不能代表有害物质(Cr VI)与阻燃剂PBB和PBDE)超标,这个测试结果(指含有)只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。