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X荧光光谱分析的特点
点击次数：559 发布时间：2018/10/30 14:26:51
从原子物理学上可知，每一种化学元素都有其特定的能级结构，而其电子都以各自特有的能量在各自固定轨道上运行，内层电子在X射线照射下被激发脱离原子核的束缚，成为自由电子，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，这就是所谓的电子跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。通过测定X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，以判定其元素的性质，这就是定性分析。而X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量的多少，这就是定量分析。 
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出*具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。 
4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。
X射线荧光分析仪诞生至今，已发展到第三代。
现如今X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、矿产、地质、石油、化工、医疗、生物、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅可以对物质的化学元素、结构、物证材料进行试测，也可以对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医学检测和微电路的光刻检验等，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。
原创作者：无锡创想分析仪器有限公司
