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绝缘纸介电常数介质损耗测试仪

点击次数:39发布时间:2021/8/5 11:21:04

  绝缘纸介电常数介质损耗测试仪

更新日期:2021/8/5 11:21:04

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简单介绍:LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪  LJD-B型【介电常数分析仪】  介电常数分析仪技术参数:  *1.信号源: DDS数字合成信号 10KHZ-70MHZ  *2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位数  3.Q值测量范围:1~1023  4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;  *5.电感测量范围:1nH~8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能  *6.电容直接测量范围:1pF~2.5uF  *7.主电容调节范围:30~540pF  8.度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%

优质供应

详细内容

 

LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪

  LJD-B型【介电常数分析仪

  介电常数分析仪技术参数:

  *1.信号源: DDS数字合成信号 10KHZ-70MHZ

  *2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位数

  3.Q值测量范围:1~1023

  4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

  *5.电感测量范围:1nH~8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

  *6.电容直接测量范围:1pF~2.5uF

  *7.主电容调节范围:30~540pF

  8.度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%

  9.信号源频率覆盖范围10kHz~70MHz

  10.合格指示预置功能范围:5~1000

  11.环境温度:0℃~+40℃;

  12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

  13. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

  绝缘纸介电常数介质损耗测试仪数显式微杆

  平板电容器:

  极片尺寸: 38mm

  极片间距可调范围:≥15mm

  夹具插头间距:25mm±0.01mm

  夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

  测微杆分辨率:0.001mm

  测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

  *液体杯:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

  14. 电感组LKI-1:

  分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

  15、主机尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280

  16、重量约:7KG

  【介电常数分析仪】术语

  定义:绝缘纸介电常数介质损耗测试仪

  这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。

  本标准用术语定义:

  电容,C,名词——当导体之间存在电势差时,导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。

  讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位,电位采用伏特为单位时,电容单位为法拉,即:

  C=q/V (1)

  耗散因子(D),(损耗角正切),(tanδ),名词——是指损耗指数(K'')与相对电容率(K')之间的比值,它还等于其损耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(见图1和图2)。

  D=K''/K' (2)

  3.2.2.1 讨论——a:

  D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp(3)

  式中:

  G=等效交流电导,

  Xp=并联电抗,

  Rp=等效交流并联电阻,

  Cp=并联电容,

  ω=2πf(假设为正弦波形状)

  耗散因子的倒数为品质因子Q,有时成为储能因子。对于串联和并联模型,电容器耗散因子D都是相同的,按如下表示为:

  D=ωRsCs=1/ωRpCp(4)

  串联和并联部分之间的关系满足以下要求:

  Cp=Cs/(1 D2) (5)

  Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2(6)

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  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
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  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币5000万

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