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介电常数介质损耗测试仪
点击次数:242发布时间:2018/11/28 10:47:03
更新日期:2020/4/8 19:32:02
所 在 地:中国大陆
产品型号:LJD-B
优质供应
详细内容
一、介电常数介质损耗测试仪的创新设计,无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完M的解决方案,它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具,测量值更为准确,测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质,无须关注量程和换算单位。
二、介电常数介质损耗测试仪主要技术特性:
Q 值测量范围: 2 ~ 1023,量程分档:30100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档
固有误差:≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差:≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
电感测量范围: 4.5nH ~ 140mH
电容直接测量范围: 1 ~ 200pF
主电容调节范围: 18 ~ 220pF
主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信号源频率覆盖范围: 100kHz ~ 160MHz
频率分段 ( 虚拟 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
频率指示误差 :3 × 10 -5 ± 1 个字
三、介电常数介质损耗测试仪夹具工作特性
1.平板电容器:
极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围:≥15mm
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率:0.001mm
四、介电常数介质损耗测试仪配置:
主机一台
电感九支
夹具一套
随机文件一套