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产品展示

华唯X荧光镀层测厚仪,金属镀层测厚光谱仪器

点击次数:286发布时间:2018/12/4 11:11:44

华唯X荧光镀层测厚仪,金属镀层测厚光谱仪器

更新日期:2020/7/21 11:00:29

所 在 地:中国大陆

产品型号:Ux-720

简单介绍:Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器)。

优质供应

详细内容

产品功能:

1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器)。

2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。

4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯*新技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。

6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。

设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。

 

产品指标:

测厚技术:X射线荧光测厚技术

测试样品种类:金属镀层,合金镀层

测量下限:0.003um

测量上限:30-50um(以材料元素判定)

测量层数:10层

测量用时:30-120秒

探测器类型:Si-PIN电制冷   

探测器分辨率:145eV

高压范围:0-50Kv,50W

X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;

光管靶材:Mo靶;

滤光片:专用3种自动切换;

CCD观察:260万像素

微移动范围:XY15mm

输入电压:AC220V,50/60Hz

测试环境:非真空条件

数据通讯:USB2.0模式

准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm

软件方法:FlexFP-Mult

工作区:开放工作区 自定义
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标准配件:

样品固定支架1支

窗口支撑薄膜:100张

保险管:3支

计算机主机:品牌+双核

显示屏:19寸液晶

打印机:喷墨打印机

 

可选配件:

可升级为SDD探测器

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可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存。

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联系人:卢俊

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
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  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币万

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