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光刻机&3D打印机
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已选条件
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FF35 CT德国YXLON多用途高分辨率CT系统
德国YXLON多用途高分辨率CT系统FF35 CT,微焦点、纳米焦点双射线 源配置，大限度提高多 功能性$r$n$r$n • 单或双射线源配置，可大限度提高 CT 应用 多功能性$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：FF35 CT产 地：欧洲
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OCTOPLUS 400德国MBE-Komponenten 分子束外延系统
日本Rion液体光学颗粒度仪KS-19F,宽广的测试范围，可测试 0.03~0.13um 之间的颗粒只需要小小的样品取样量就可以得到高效率高精准的颗粒数据。$r$n$r$n$r$nOCTOPLUS 400 是一款通用型MBE系统，非常适合于III/V族， II/VI族，及其他复合半导体材料应用。兼容2-4英寸标准晶片。竖直分割式腔体设计，可以装配各种源炉，实现不同材料分子束外延生长。$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：OCTOPLUS 400产 地：欧洲
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OCTOPLUS 500德国MBE-Komponenten 分子束外延系统
OCTOPLUS 500 MBE系统是为了在6英寸衬底上生长高质量的III/V族或者II-VI族异质结构材料而研发业分子束外延系统。样品台选用热解石墨加热或者钨、钽加热丝。标准的OCTOPLUS 500有11个呈放射状分布的源孔，可以根据需要增选3个源孔。
价 格：￥电议型 号：OCTOPLUS 500产 地：欧洲
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WCT-120，Suns-Voc少子寿命测试仪
sinton少子寿命测试仪WCT-120，Suns-Voc，硅片少子寿命测试系统，采用了独特的测量和分析技术，包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。
价 格：￥电议型 号：WCT-120，Suns-Voc产 地：美洲
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WCT-120，Suns-Voc美国sinton少子寿命测试仪
sinton少子寿命测试仪WCT-120，Suns-Voc，硅片少子寿命测试系统，采用了独特的测量和分析技术，包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。
价 格：￥电议型 号：WCT-120，Suns-Voc产 地：美洲
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V-Octo德国 KSI 八探头大型超声波扫描显微镜系统
KSI V-Octo 八探头大型超声波扫描显微镜系统，该系统同时使用8只换能器，能最大限度的确保快速图像采集和高效能。
价 格：￥电议型 号：V-Octo产 地：欧洲
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SpectraRay/4光谱椭偏测量/分析软件
SpectraRay/4:光谱椭偏测量/分析软件，SENDURO®全自动光谱椭偏仪包括基于测量处方的仅在几秒钟内即可完成的快速数据分析。椭圆仪的设计是为了便于操作：放置样品，自动样品对准，自动测量和分析结果。在全自动模式下使用光谱椭偏仪非常适合于质量控制和研发中的常规应用。
价 格：￥电议型 号：SpectraRay/4产 地：欧洲
