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光刻机&3D打印机
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离子刻蚀与沉积
匀胶涂覆机
半导体辅助设备
半导体微纳检测仪器
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- 美国MMR霍尔效应测量仪
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实验检测仪器
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- Oxford pulsar 实验室智能核磁共振波谱仪
- DynaCool 全新一代完全无液氦综合物性测量系统
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- MPMS3最新一代磁学测量系统
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紫外清洗等离子清洗机
- 美Harrich 等离子清洗机
- 德Diener 等离子清洗机
- 德PVA Tepla 微波等离子清洗机
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- 美国Novascon UV清洗机
- 美国UVOCS UV清洗机
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德国Netzsch
Rion 液体光学颗粒度仪
液体光学颗粒度仪
奥地利EVG光刻杨键合机压印机
尼康Nikon光刻机
德国Lecia 切片掩膜一体机
日本Elionix
化学开封机 / 激光开封机
光刻胶/硅片
半导体辅助工艺/光刻胶
日立Hitachi
UV灯
已选条件
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NRT-3500, NRT-4000美NANO-MASTER RTP快速退火炉
美NANO-MASTER RTP快速退火炉$r$n$r$nNRT-3500 紧凑型独立式全自动RTP系统$r$n$r$nNRT-4000 独立式全自动RTP系统$r$n$r$nNRT-4000 独立式大批量RTP系统$r$n$r$n$r$n$r$nNIR-4000 独立式 IBE / RIE 双刻蚀系统$r$n$r$nNIE-3000 台式 IBE 刻蚀系统NSC-3000可支持多4个靶的DC溅射或RF溅射$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：NRT-3500, NRT-4000产 地：美洲
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EVG7200奥地利SmartNIL紫外纳米压印
奥地利SmartNIL紫外纳米压印：EVG7200，LEDS 制作，LED PSS纳米压印工艺，LED纳米透镜阵列；微流体学；芯片实验室；抗反射层； 纳米压印光栅； 莲花效应；光子带隙；光学及通讯：光晶体，激光器件；生物技术解决方案：医药分析，血液分析，细胞生长。$r$n$r$n
价 格：￥电议型 号：EVG7200产 地：欧洲
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Smartlab SE日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪
日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE, 高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心,易用、智能的全功能X射线衍射仪
价 格：￥电议型 号：Smartlab SE产 地：日本
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SmartLab日本理学X射线多晶衍射仪
日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。
价 格：￥电议型 号：SmartLab产 地：日本
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TSQ Fortis德国赛默飞Thermo Scientific 三重四极杆质谱仪
德国赛默飞Thermo Scientific 三重四极杆质谱仪 TSQ Fortis, 以其可靠性和耐用性提高了目标定量实验室的分析效率。该系统能够可靠地解答每个样品更为复杂的问题，同时取得可重现的结果，这使得其更容易满足当今的需求。
价 格：￥电议型 号：TSQ Fortis产 地：欧洲
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MT Century Curve Tracer美国RTI自动特性图示仪
美国RTI自动特性图示仪 MT Century Curve Tracer，是一个性价比较高的曲线追踪设备。最多到96个channel，提供4种型号可供客戶选择，MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他RTI机型一样，MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。
价 格：￥电议型 号：MT Century Curve Tracer产 地：美洲
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HT-RTA59HD，CAS-59AQ日本Advance Riko 超高温高速退火炉
日本Advance Riko 超高温高速退火炉：$r$n。桌面式：HT-RTA59HD$r$n。带水淬：CAS-59AQ
价 格：￥电议型 号：HT-RTA59HD，CAS-59AQ产 地：日本
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RTMALD实时监测仪
$r$nSENTECH ALD实时监测仪是一种新型的光学诊断工具，是心灵超高分辨率的单一ALD循环。在不破坏真空的条件下分析薄膜特性(生长速率，厚度，折射率)，在短时间内开发新工艺、实时研究ALD循环中的反应机理是SENTECH ALD实时监测仪的主要应用。$r$n $r$n
价 格：￥电议型 号：RTM产 地：欧洲
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RT Inline薄膜反射和透射的在线监测系统
$r$n薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline$r$n $r$n反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。$r$n
价 格：￥电议型 号：RT Inline产 地：欧洲
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FTPadv Expert综合薄膜测量软件
FTPadv Expert 综合薄膜测量软件，光谱反射测量软件FTPadv Expert是专门为测量和分析R(λ)和T(λ)而设计的。用于确定各种材料的薄膜厚度、消光系数或折射率的光谱数据分析，这些参数都被加载到SENTECH光谱反射测量软件中，使得能够根据Cauchy色散、Drude振荡给出的参数描述和拟合材料。
价 格：￥电议型 号：FTPadv Expert产 地：欧洲
