日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE

高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心

从粉末测试到二维数据采集

根据用户的需要，整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试， 或者，复杂的微区或原位测试等要求 。

标准光路配置

Bragg-Brentano 聚焦光路

．粉末测试

·定量分析

．晶粒尺寸

     ·结晶度

                     Smartlab SE 可根据应用需求调整配置

反射／透射 模式下的粉末衍射测量

反射模式光路配置

• Bragg-Brentano 聚焦法

．平行光束法

·发散光束法

用户可以根据测量需要在反射模式和透射模式 间切换。使 用会聚光束进行透射法测试 ，可以获得更高的强度和更好 的分辨率。

0.1 质量分数% 石棉 （温石棉） 分散于碳酸钙中 一束发散的X射线经过平面镜单色后进行衍射实 验 ，相比于传统的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式，可以获得更高的信背 比。从衍射实验结果中可

以看出，？自量的石棉衍射信号都可 以被检测到 。

透射模式光路配置

·聚焦光束法

·平行光束法

（上图展示的是垂直模式下的透射测试光路）

分别用反射法和透射法测试药 片的X射线衍射峰 药物片剂一般由含有甜昧的辅料及可食用色素构 成，可以有效的降低药片在吞咽时的苦涩感。药片 表面的成分可以通过反射法进行测试 ，而药片内部的信息可以通过透射法获得。

微区衍射测试

采用理学专有的 CBO-f光学附件，该附件可以使X射线会聚于 样品表面，而不再需要调整×射线从线光源到点光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探测器或 HyPix-400 二 维半导体阵列探测器可以快速的检测到微区实验中弱的衍射 信号。

微区测试应用于即刷电路板

(1） 电容器 （2) IC 芯片 （3） 焊点 采用CBO-f 和 HyPix-400 测试。

极图／残余应力测试

使用线光源在极图测量时 ，可以降低由于使用Schulz狭缝 时，衍射强度随试样倾角的增加而降低的情况 ，其测试效果与点光源一致。软件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以进行晶体取向分析井且可以通过重新计算得到样品的全极图。

在残余应力测试中 ，使用平行狭缝分析器  （ PSA） 可以有效 的降低由于位移误差造成的峰位漂移 。

重新计算后生成的铝锚片的全相极图

测试中使用了 ，α日 样品台 ，反射附件 ， Schulz挟缝。全相极图是基于三个不 同的 米勒指数面 仆仆，200 和 220 ） 的测试结 果，通过ODF重新计算得来的 。

小角X射线散射（SAXS)

SAXS测试可以获得粒径或孔径小于 100nm的材料的分布情 况，衷测试过程中 28角度移动范围小于 10。。SAXS测试过程 中，使用双挟握和平行光光路系 统。／使用真空光路 ，可以减小空气散射的影响 ，从而获得高质量 的数据。

10 SAXS测试分散于 甲苯中的金粒子 （双 狭缝光学系统）

原位测试

原位 （ In-situ ） 测试技术 ，可以通过测试人员的控制，改变 温度或湿度，同时测量衍射数据的变化。Smartlab SE支持 各种原位测量附件 ，如常见的变温附件 ，湿度控制附件，使 用DSC附件还可以监测样品在热反应前后的变化 。多种原位 附件与HyPix400半导体阵列检测器的结合 ，使得快速的实时 测量成为可能 ，不仅可以鉴定结构的变化 ，还可以检测大尺 寸晶粒和晶面取向的变化。

相变属虫化过程，甲糖宁是一种治疗糖尿病的 药物J 监测其在变温过程中物象的变化。 随着温度的变化，甲糖宁的晶体结构发生改 变。使用二维半导体阵歹I］探测器HyPix-400, 可以监测其在眼热反应 （峰） 前后晶体结构 的变化。