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深圳市蓝星宇电子科技有限公司 主营产品:光刻机,真空镀膜机,离子刻蚀机,,半导体辅助材料,半导体微纳检测仪器,太阳能吸收率发射击队率检测仪,,实验检测仪器设备,紫外线UV光清洗机UV灯.

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德国NETZSCH 闪射法导热仪

价格:¥电议

品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号:LFA 467 HyperFlash 原产地:中国大陆 发布时间:2023/10/9 15:38:11更新时间:2024/12/24 10:15:24

产品摘要:LFA 467 HyperFlash 闪射法导热仪,自由选择测试气氛,优化结构设置与闪射光源,16位自动进样器,高的测量效率,宽广的温度范围,灵活配备冷却系统,设计独特,性能优异,配备氙灯光源的,高温测试系统,宽广的温度范围,真空密闭炉体,确保气氛纯净,防止氧化,内置微型管式炉,更高的测量效率,高数据采集速率- 用于薄膜与高导热材料的解决方案

产品完善度: 访问次数:215

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手机网站:http://m.yituig.com/c143096/

商铺地址:http://www.lxyee.net

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详细内容

闪射法导热仪

LFA 467 HyperFlash® 系列

热扩散系数与导热系数的测量方法,技术,应用


 

导热系数/热扩散系数

多少热量被传递?传递速度多快?

一直以来,研究人员和工程师都在寻找一种佳的测试方法,这种方法可精确测定高导热材料在中低温下,陶瓷和耐火材料在高温下的热物性。解决这些问题的关键其实只需要精确地得到两个参数:热扩散系数和导热系数,而这两个参数都可使用激光闪射法仪器测得。激光闪射法操作简便,测试结果精确可靠。此类方法可满足研究热传导过程中遇到的典型问题,例如:

• 铝锭凝固有多快?

• 催化转化器中的陶瓷部件传热有多快?

• 陶瓷刹车片在使用过程中的温度分布是怎样的?

• 对于处理器,如何选择合适的热交换材料?

多年来,耐驰公司一直是激光闪射导热测量技术的引者,已成功地将此技术的应用温度范围扩展至-125°C…2800°C。我们从不停止技术创新和应用拓展。LFA 467 Hyperflash®和LFA 467 HT Hyperflash®继承了耐驰的卓越传统,再一次成为业界标杆之作


 


 

LFA 467 HyperFlash®


 


 

优化结构设置与闪射光源

LFA 467 HyperFlash®仪器整体设计为垂直式结构。其中,激光源位于仪器底部,样品置于中间部位,检测器在顶部。脉冲能量可通过软件自动调节,亦可通过选配的滤光片转盘进一步优化;脉冲宽度可在10µs至1500µs范围内调节。


 

16位自动进样器,高的测量效率

LFA 467 HyperFlash®可配备高达16位的自动进样器。其中可放置4个支架,每个支架内多可容纳4个样品;样品的形状可自由选择圆形或方形。仪器配备大容量的液氮杜瓦瓶,保证检测器长时间正常工作。


 

宽广的温度范围

无需更换炉体和检测器,LFA 467 HyperFlash®的检测温度即可覆盖-100°C(低于橡胶材料的玻璃化转变温度)至高温500°C。用户可根据需求配备不同冷却设备,大大减少测量时间。该仪器加热速率高可达50K/min,且保证控温的高稳定性


 

灵活配备冷却系统


 

该仪器可配备液氮制冷系统,测试温度低至-100°C。如配备真空系统,使得样品处于低压气氛中,可进一步减少热损耗的影响,得到更加精确的结果。此外,也可选配压缩空气装置。所有冷却设备使用时均可同时吹扫惰性气氛。


 

设计独特,性能优异

配备氙灯光源的高温测试系统

LFA 467 HT HyperFlash®的诞生基于LFA 467 HyperFlash®的成熟技术,拥有创新的光源系统。长寿命的氙灯可在1250°C范围内提供高性价比的测试,没有任何昂贵的耗材


 

宽广的温度范围


 

LFA 467 HT HyperFlash®是市面上第  一台配置氙灯光源、且高温度可达到1250°C的激光导热仪。结合集成的自动进样器,可以覆盖整个温度范围,同时保持LFA 467HyperFlash®系列一贯的测量准确性。外部的循环水浴可有效保护炉体周围的部件,即使炉体在高温下,其周围的部件仍处于安全的温度范围,进而提高测量可靠性,并降低检测器的液氮消耗量。


 


 

真空密闭炉体,确保气氛纯净,防止氧化


 

仪器可配备真空泵,支持每一次测试开始自动抽真空,以确保气氛纯净。仪器也可连接外部真空泵。真空密闭的铂炉支持大50K/min升温速率。


 


 

内置微型管式炉,更高的测量效率


 

仪器配备四个独立的微型管式炉。高速加热炉体使得LFA的测试效率非常高。仪器配备四个样品位,每一个下方都配备有单独的热电偶,使得控温稳定时间大大缩短。您可以在一个小时以内完成全温度范围内十个温度步阶测量。仪器配备有自动进样系统,可适用于Ø12.7 mm的圆形样品支架和Ø10mm的圆形或方形样品支架。


 


 

高数据采集速率- 用于薄膜与高导热材料的解决方案


 

LFA 467 HyperFlash®系列的数据采集速率提高到了2MHz(包括IR检测器和pulse mapping通道)。因此,仪器可以可靠地测试传热时间短的一些样品,如高导热材料、薄膜材料等。在测试金属(0.3mm)与聚合物薄膜(30µm)时,可以选择优的采样速率与脉冲宽度。结合利的pulse mapping系统(利号:US7038209 B2US20040079886DE10242741),可对脉冲宽度效应与热损耗进行有效修正。


 

热门标签:导热仪 LFA 467 HyperFlash 

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