您好,欢迎来到易推广 请登录 免费注册

  • 高级会员服务
  • |
  • 广告位服务
  • |
  • 设为首页
  • |
  • 收藏本站
  • |
  • 企业档案

    • 会员类型:初级版会员
    • 易推广初级版会员:6
    • 工商认证【已认证】
    • 最后认证时间:
    • 注册号: 【已认证】
    • 法人代表: 【已认证】
    • 企业类型:代理商 【已认证】
    • 注册资金:人民币1080万 【已认证】
    • 产品数:446

深圳市蓝星宇电子科技有限公司 主营产品:光刻机,真空镀膜机,离子刻蚀机,,半导体辅助材料,半导体微纳检测仪器,太阳能吸收率发射击队率检测仪,,实验检测仪器设备,紫外线UV光清洗机UV灯.

当前位置: 易推广 > 光学仪器 > 光学应用 > 光学平台 > 深圳市蓝星宇电子科技有限公司 > 产品展示 > 离子刻蚀与沉积 > 英国Oxford > 英国牛津OXFORD 等离子体刻蚀机

英国牛津OXFORD 等离子体刻蚀机

价格:¥4

品牌名称:$brandModel.Title(进口品牌)型号:PlasmaPro 80 ICP 原产地:欧洲 发布时间:2019/9/15 17:24:25更新时间:2024/12/2 11:47:16

产品摘要:PlasmaPro 80 ICP 英国牛津OXFORD 等离子体刻蚀机,是一种结构紧凑、小型且使用方便的直开式系统,可提供多种刻蚀解决方案。 它易于放置,便于使用,且能够确保工艺质量。直开式设计允许快速的进行晶圆装卸,是科学研究、原型设计和少量生产的理想选择。 该设备通过优化了的电冷却技术和出色的衬底温度控制来实现高度稳定的工艺结果。

产品完善度: 访问次数:2746

企业档案

会员类型:初级版会员

已获得易推广信誉   等级评定
14成长值

(0 -40)基础信誉积累,可浏览访问

(41-90)良好信誉积累,可接洽商谈

(91+  )优质信誉积累,可持续信赖

易推广初级版会员:6

工商认证 【已认证】

最后认证时间:

注册号: 【已认证】

法人代表: 【已认证】

企业类型:代理商 【已认证】

注册资金:人民币1080万 【已认证】

产品数:446

参观次数:739087

手机网站:http://m.yituig.com/c143096/

商铺地址:http://www.lxyee.net

光刻机&3D打印机

镀膜沉积机

离子刻蚀与沉积

匀胶涂覆机

半导体辅助设备

半导体微纳检测仪器

实验检测仪器

紫外清洗等离子清洗机

太阳能检测仪

德国YXLON 检测仪

德国Netzsch

Rion 液体光学颗粒度仪

液体光学颗粒度仪

奥地利EVG光刻杨键合机压印机

尼康Nikon光刻机

德国Lecia 切片掩膜一体机

日本Elionix

化学开封机 / 激光开封机

光刻胶/硅片

半导体辅助工艺/光刻胶

日立Hitachi

UV灯

详细内容

 PlasmaPro 80 ICP 英国牛津OXFORD 等离子体刻蚀机


 

PlasmaPro 80 ICP是一种结构紧凑、小型且使用方便的直开式系统,可提供多种刻蚀解决方案。 它易于放置,便于使用,且能够确保工艺质量。直开式设计允许快速的进行晶圆装卸,是科学研究、原型设计和少量生产的理想选择。 该设备通过优化了的电冷却技术和出色的衬底温度控制来实现高度稳定的工艺结果。

。直开式设计允许快速装卸晶圆
。出色的刻蚀深度和刻蚀速率控制
。出色的晶圆温度均匀性
。晶圆大可达200mm
。购置成本低
。符合半导体行业 S2 / S8标准

应用:

· III-V族材料刻蚀工艺

· 硅 Bosch和超低温刻蚀工艺

· 二氧化硅和石英刻蚀

· 用于失效分析的干法刻蚀解剖工艺,可处理封装好的芯片、 裸晶片以及200mm晶圆

· 用于高亮度LED生产的硬掩模的沉积和刻蚀

 

 

特点:

· 小型系统 —— 易于安置

· 优化的电冷却系统 —— 衬底温度控制

· 高导通的径向(轴对称)抽气结构 —— 确保能提升工艺均匀性和速率

· 增加<500毫的数据记录功能 —— 可追溯腔室和工艺条件的历史记录

· 近距离耦合涡轮泵 —— 抽速高迅速达到所要求的低真空度

· 关键部件容易触及 ——系统维护变得直接简单

· X20控制系统——大幅提高了数据信息处理能力, 并且可以实现更快更可重复的匹配

· 通过端软件进行设备故障诊断 —— 故障诊断速度快

· 用干涉法进行激光终点监测 —— 在透明材料的反射面上测量刻蚀深度 (例如硅上的氧化物),或者用反射法来确定非透明材料 (如金属) 的边界

· 用发射光谱(OES)实现较大样品或批量工艺的终点监测 —— 监测刻蚀副产物或反应气体的消耗量的变化,以及用于腔室清洗的终点监测

 

快速导航

在线咨询

提交