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CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试 电源纹波测试 国产芯片替代测试 EMMC 器件测试
国产芯片替代测试 EMMC 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标 EMMC 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标
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EMMC4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试
EMMC4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试$r$n实际上就是把电缆的头接在示波器上，示波器设置为50欧姆输入阻抗；电缆的另头剥开，屏蔽层焊接在被测电路地上，中心导体通过个隔直电容连接被测的电源信号。这种方法的优点是低成本，低衰减比，缺点是致性不好，隔直电容参数及带宽不好控制。
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EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试
EMMC4 , 复位测试 , CLK测试 , DQS测试$r$neMMC则在其内部集成了 Flash Controller，包括了协议、擦写均衡、坏块管理、ECC校验、电源管理、时钟管理、数据存取等功能。
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EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试 EMMC5 复位测试
EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试 EMMC5 复位测试$r$nIdentification State，发送完 CID 后，eMMC Device就会进入该阶段。$r$n
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CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试
相关产品：CLK测试 , DQS测试 , EMMC4 , 上电时序测试$r$nData Strobe 时钟信号由 eMMC 发送给 Host，频率与 CLK 信号相同，用于 Host 端进行数据接收的同步。Data Strobe 信号只能在 HS400 模式下配置启用，启用后可以提高数据传输的稳定性，省去总线 tuning 过程。
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电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试 EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试
电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试 EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试$r$n
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CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试，眼图测试
CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试，眼图测试$r$nCRC 为 Data 的 16 bit CRC 校验值，不包含 Start Bit。$r$n各个 Data Line 上的 CRC 为对应 Data Line 的 Data 的 16 bit CRC 校验值。
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数据信号测试 EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试
数据信号测试 EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试$r$n在 DDR 模式下，Data Line 在时钟的上升沿和下降沿都会传输数据，其中上升沿传输数据的奇数字节 （Byte 1,3,5...），下降沿则传输数据的偶数字节（Byte 2,4,6 ...）。
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I复位测试 CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试
复位测试 CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试$r$n当 eMMC Device 处于 SDR 模式时，Host 可以发送 CMD19 命令，触发总线测试过程（Bus testing procedure），测试总线硬件上的连通性。
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