【上电时序】

1.判断标准：

与替代前的测试结果进行对比。电源上电时序单调，没有振荡现象。过冲电压小于使用此电源的芯片极限电压值。2.不断了解客户的需求，给客户在售前，售中，售后的良好体验。

2.测试描述：

使用示波器测试单板上电波形及过冲电压，观察是否有不单调，振荡等现象。对于多电源供电并且上电时序有要求的芯片，需要测试多电源间上电时序。

 【电源电压】

1.判断标准：

与替代前的测试结果进行对比，输出电压精度满足±5%要求，有特殊要求的单板按照芯片规格书要求执行。 

2.测试描述：

设置单板在大负载状态下，使用万用表测量电源器件输出的电源电压。

 【电源纹波】

1.判断标准：

测试指标与替代前的测试结果进行对比，指标符合要求。一般情况下，电源纹波不大于额定输出值的1%+20mV，芯片手册有要求的，依据芯片手册要求。 

2.测试描述：

测试大及*小负载下的电源纹波。

 【SW开关波形】

1.判断标准：

波形过冲和稳定性满足电源芯片Datasheet要求。

2.测试描述：

在大负载下使用示波器测试SW开关波形。

 【芯片表面温升】

1.判断标准：

满足芯片规格书要求和产品规格要求。与替换前的测试指标进行对比，指标没有下降。

2.测试描述：

在大负载下用测温仪测试芯片表面的温度，如产品有短路温升要求，还需要测试输出短路时的芯片表面温度。

 【反复开关机】

1.判断标准：

执行测试期间，单板工作正常。

2.测试描述：

反复开关机20次以上，关机时间1秒，开机时间5分钟左右。

 【电源效率】

1.判断标准：

满足产品规格要求。与替换前的测试指标进行对比，指标没有下降。

2.测试描述：

分别在待机以及大的负载下测试输入电压、电流和输出电压、电流，计算出相应的效率

 【输入过压、欠压】

1.判断标准：

满足产品规格要求，芯片本身无损坏。

2.测试描述：

分别在输入过压、欠压的情况下测试芯片能否起到保护作用，芯片本身是否损坏。

 【输入出过流、短路保持】

1.判断标准：

满足产品规格要求，芯片本身无损坏。

2.测试描述：

分别在输出过流、短路的情况下测试芯片能否起到保护作用，芯片本身是否损坏。

 【EMC】

1.判断标准：

与替代前的测试结果进行对比，指标应符合设计要求。

2.测试描述：

在EMC实验室，单板处于正常工作状态，测试相应的EMC指标。开关噪声可能会对单板的辐射发射及传导发射有影响，根据单板具体情况决定是否测试。

 【环境试验】

1.判断标准：

测试期间，单板能够正常工作。

2.测试描述：

按照环境测试要求做试验。对于DC-DC及电源模块，环境温度可能会对电源输出指标产生影响。

 【单体性能评估】

1.判断标准：

测试期间，满足产品规格要求。

2.测试描述：

评估芯片单体时，可增加大输入电压、大输出电流、电压调整率、负载调整率等测试。

     适用于ROM、RAM、FLASH、DDR等存储器的兼容替代测试，信号级测试重点关注存储器发出的信号，存储器接收信号视实际情况可选择测试。

 【电源精度】

1.判断标准：

满足芯片手册电源指标的精度要求。

2.测试描述：

常温常压环境，在单板上电后正常运行的情况下，用万用表测试存储器VDDQ和VREF电源精度；测试点为靠近存储器端。

 【电源纹波】

1.判断标准：

满足芯片手册电源指标的纹波要求。

2.测试描述：

测试存储器VDDQ和VREF电源纹波。

 【时钟信号幅度指标】

1.判断标准：

满足芯片手册电源指标的纹波要求。

2.测试描述：

测试时钟信号的幅度、高电平、低电平和过冲。

 【时钟信号时间指标】

1.判断标准：

满足芯片手册电源指标的纹波要求。

2.测试描述：

常温常压环境，在单板上电后正常运行的情况下，测试时钟信号的频率（或周期，优先测频率）—F（or T）、上升时间—tr、下降时间—tf、 频率准确度—Frequency Accuracy、占空比—Duty Cycle、高电平宽度—Thigh、低电平宽度—Tlow。

 【时钟信号单调性】

1.判断标准：

满足芯片手册时钟信号单调性要求。

2.测试描述：

常温常压环境，在单板上电后正常运行的情况下，测试时钟信号的单调性。

 【时钟信号抖动】

1.判断标准：

满足芯片手册时钟抖动的要求。

2.测试描述：

测试输入时钟抖动指标。

 【地址和控制信号完整性】

1.判断标准：

满足芯片手册地址和控制信号完整性指标要求。

2.测试描述：

常温常压环境，在单板上电后正常运行的情况下测试地址和控制信号完整性，至少包括幅度、过冲、上升/下降斜率，具体测试项目参见芯片手册要求。

 【地址和控制信号时序】

1.判断标准：

满足芯片手册地址和控制信号时序指标要求。

2.测试描述：

常温常压环境，在单板上电后正常运行的情况下，测试地址和控制信号的时序指标，包括建立时间和保持时间。

 【数据写信号完整性】

1.判断标准：

满足芯片手册数据写信号完整性指标要求。

2.测试描述：

常温常压环境，在单板上电后正常运行的情况下，测试数据读，写信号完整性，读写时序，至少包括幅度、过冲、上升/下降斜率，建立保持时间，具体测试项目参见芯片手册要求。

 【反复开关机】

1.判断标准：

执行测试期间，单板工作正常。

2.测试描述：

反复开关机100次以上，关机时间1秒，开机时间5分钟左右。

 【擦写次数（针对FLASH芯片）】

1.判断标准：

满足芯片规格和产品规格要求。

2.测试描述：

通过软件擦写程序反复对FLASH芯片进行擦写，直到擦写出错。

 【高低温】

1.判断标准：

环境测试期间单板能正常运行，丢包率符合单板规格书要求。

2.测试描述：

根据具体单板的规格要求，跑流量，在低温和高温环境下，连续运行24-48小时，记录测试结果。 

 【复位电平】

1.判断标准：

复位信号电平要满足被复位芯片要求。

2.测试描述：

复位信号电平测试。

 【复位时间】

1.判断标准：

复位时间要满足被复位芯片要求。

2.测试描述：

复位时间测试。

 【Watchdog时间】

1.判断标准：

单板的喂狗信号是否满足复位芯片的要求。

2.测试描述：

Watchdog喂狗时间兼容性测试。

    只针对*常用的网络变压器进行测试验证。 

 【以太网眼图测试】

1.判断标准：

满足以太网眼图规范要求。

2.测试描述：

按照以太网眼图测试规范进行测试。

 【雷击浪涌测试】

1.判断标准：

满足单板浪涌测试指标要求。

2.测试描述：

根据具体单板规格说明书的要求做浪涌测试。

 【温度循环试验】

1.判断标准：

试验期间单板能正常工作。

2.测试描述：

根据具体单板的规格说明书要求做高低温循环试验。

 【以太网端口传导抗扰测试】

1.判断标准：

满足单板规格说明书的传导抗扰指标。

2.测试描述：

做传导抗扰测试。

 【辐射发射测试】

1.判断标准：

满足单板规格说明书的辐射发射指标。

2.测试描述：

做辐射发射测试。

 【输出时钟信号完整性测试】

1.判断标准：

指标满足满足使用此时钟的芯片手册要求。

2.测试描述：

用示波器的探头测试输出时钟的测试点，记录相应特性测量值。特性参数包括时钟信号的幅度、峰峰值、上下过冲、频率、周期、占空比、上升下降时间等。

 【频率偏移测试】

1.判断标准：

满足使用此时钟的芯片手册要求。

2.测试描述：

测量频率偏移指标。

 【高低温循环的环境测试】

1.判断标准：

温度循环过程中单板能正常工作。

2测试描述：

做高低温循环测试。