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NANDFlash 器件替代测试替代测试主要内容替代测试主要指标

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型号：原产地：中国大陆发布时间：2021/3/31 10:26:06更新时间：2024/12/1 17:24:23

产品摘要：NANDFlash 器件替代测试替代测试主要内容替代测试主要指标 NANDFlash 器件替代测试替代测试主要内容替代测试主要指标

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NANDFlash 器件替代测试替代测试主要内容替代测试主要指标
NAND FLASH不同品牌软件要做修改，硬件可pin-pin，厂商地址码要改zhi，还有有dao些的ECC校验不一样，目前还在做小容量nand flash的是韩国ATO solution，旺宏MXIC .面对储存型闪存（baiNAND Flash）供货紧缩，以及二维（2D）NAND Flash将于10纳米制程面临微缩瓶颈，东芝（Toshiba）已于近期宣布将于2013年8月底展开五号半导体制造工厂（Fab 5）第二期建厂计划，以因应未来NAND Flash扩产需求！

北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。

高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。