ROM 存储器 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标
测试ROM的真正目的是保证程序完整性。
    嵌入式软件和启动代码存放在ROM里，不能保证长期稳定可靠，因为硬件注定是不可靠的。以flash ROM为例，它会由于以下两种主要原因导致程序挥发：
    1。受到辐射。本身工作在辐射环境里/运输过程中受到辐射（如过海关时被X光机检查）。
    2。长时间存放导致存储失效，某些0、1位自行翻转。
    无论如何，在硬件上存放的程序都是不可靠的。如果完全不能运行，那到也不会造成太大的损失。怕就怕程序可以运行，但某些关键数据/关键代码段被破坏，引发致命错误。为此，必须在程序正常工作前，在软件层面上保证所运行的程序100%没有被破坏，保证现在要运行的程序就是当初写入的。
    保证程序完整性的方法很多，例如对全部程序进行CRC校验(-16和-32)/累加和校验(移位累加)，只要能在数学上确保出错概率极低，工程上就可以认为程序完整。
    程序完整性测试通过，捎带着也就证明了ROM没有被损坏。即测试ROM是否损坏只是测试的副产品，不是主要目的。

北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。

高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。