EEPROM 器件替代测试 替代测试主要内容 替代测试主要指标

种为在批量测试EEPROM过程中，为了节约EEPROM的测试时间，通常仅对首地址进行读写操作，对全片进行读操作测试，并不会特意进行芯片存储容量的查询与判断，因为那样会消耗较多的测试时间。在测试一批同样容量的EEPROM时，如果掺杂有其他容量的EEPR0M，在进行全片OxFF读取测试时，对于实际存储容量同当前测试期望的存储容量不同的其他的EEPROM不能及时发现，对于存储容量大于当前测试容量的EEPROM会存在漏测一部分存储空间的问题。第二种情况为EEPROM芯片测试过程中，有时会存在由于外界信号干扰或者电压不稳定等其它原因造成的I2C(Inter — Integrated Circuit)测试总线上的误操作，进而造成EEPROM误写为全OxFF，但是当前的测试方法又是仅进行全片OxFF读取测试，所以会将有问题的芯片误判为正常芯片，即当前的测试方法无法排除这种异常误操作的情况。

传统的eeprom芯片在生产测试阶段，由于晶圆上芯片数目巨大，因此需要耗费大量的时间去检测和排除。传统测试参见附图1：上位机发送总线格式大多采用iic/spi，这类总线多数是串行的数据格式，数字逻辑电路将串行的总线格式转换成eeprom所指定的读/写并行格式的时序，并做相应操作。由附图1所示，上位机需要发送多条读/写命令给eeprom芯片，才能覆盖测试完整。以附图2和附图3中常见的iic总线为例，工作频率200khz，发送一条写命令占用29个时钟周期，消耗时间约145ns；发送一条读命令占用38个时钟周期，消耗时间约190ns。这样重复的操作消耗了极大的时间成本。这种批量测试，为了节约eeprom的测试时间，通常仅对首地址进行读写操作，对全片读写、擦除操作测试，也不会特地进行芯片存储容量的查询与判断，因为那样做消耗更多的测试时间。

北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。

高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。