SI信号完整性测试主要测试内容 波形完整性

现在的高速数字系统的时钟频率可能高达数百兆Hz，其快斜率瞬变和极高的工作频率， 以及很大的电路密集度，必将使得系统表现出与低速设计截然不同的行为，出现了信号完整 性问题。破坏了信号完整性将直接导致信号失真、定时错误，以及产生不正确数据、地址和 控制信号，从而造成系统误工作甚至导致系统崩溃。因此，信号完整性问题已经越来越引起高速数字电路设计人员的关注。 如果电路中信号能够以要求的时序、持续时间和电压幅度到达 IC，则该电路具有较好的信号完整性。反之，当信号不能正常响应时， 就出现了信号完整性问题。 SI（Signal Integrity ） 解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现，物理实现中数字器件开关行为的模拟效果往往成为设计成败的关键。

北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。

高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。