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MIPI C-PHY D-PHY 眼图测试 MIPI屏 初始化指令问题 分析与解决方法
MIPI C-PHY D-PHY 眼图测试 MIPI屏 初始化指令问题 分析与解决方法。$r$n依据CCIR656标准，图像必须是625/50帧的PAL,或者是525/60帧的NTSC格式。另外，图像还要交错成奇偶场， 垂直和行消隐数据都被填入特定的行。
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解决MIPI屏黑屏问题 MIPI调试过程 MIPI接口屏闪屏的测试 分析与解决方法
解决MIPI屏黑屏问题 MIPI调试过程 MIPI接口屏闪屏的测试 分析与解决方法$r$n依据CCIR编码表，SAV和EVAV之间的保护数据是被编码过的，使用这种方法，编码器可以纠正1-bit错误，可以检查2-bit的错误。$r$n该特征只是在CSI的CCIR编码中，仅仅是奇偶交错模式中支持。
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分析与解决方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼图测试
分析与解决方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼图测试$r$n当帧结束或者是个在RxFIFO中的完整的帧数据被全部读出时，EOF中断就产生了，EOF并不在CSI的PrP模式中使用。$r$n该中断是用在CCIR奇偶域交错的模式下使用，该中断当Field 1 和Field 2交错的时候产生。F1_INT和F2_INT会产生$r$n
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解决MIPI屏黑屏问题 MIPI调试过程 MIPI接口屏闪屏的测试
解决MIPI屏黑屏问题 MIPI调试过程 MIPI接口屏闪屏的测试$r$nBayer数据是个从图像传感器获得典型的行数据。该数据宽度定要通过软件转化为RGB空间或者是YUV空间的数据格式。$r$nPACK_DIR bit设置为0，表示系统是小端，不是大端系统。使用P0,P1,P2,P3存放了打包了的数据内容，P0是个Data,依次，P3是个data.$r$n
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MIPI CLK眼图 DATA眼图测试与分析 解决MIPI屏黑屏问题
MIPI CLK眼图 DATA眼图测试与分析 解决MIPI屏黑屏问题$r$nMX27提供了个非常业的摄像头CSI接口，可以配置相关的口进行接口匹配。$r$n我们的摄像头是ov9660，输出设定为YUV模式，因此，CSI获取的数据也是YUV格式的数据，因此还需要通过软件，将YUV的格式转化为$r$nRGB565、RGB656、RGB888格式放到LCDC对应的Memory进行显示输出。
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MIPI C-PHY D-PHY 眼图测试 MIPI屏 初始化指令问题
MIPI C-PHY D-PHY 眼图测试 MIPI屏 初始化指令问题$r$n像素可以放映到你的抓图上面的大小，该像素就是说明你的CMOS或者是CCD感光元件的像素点多少，可以想象在相同的面积上，数量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么图像的质量其实会变差，这个当然可以理解，但是从大的方面来说，只要镜头好，光源充足，那么效果也会变好，这样画面就比像素低的更加的细腻，所以高像素的好处就在这里。
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MIPI眼图 数据 CLK眼图 DATA眼图测试与分析 解决MIPI屏黑屏问题 MIPI调试过程
MIPI眼图 数据 CLK眼图 DATA眼图测试与分析 解决MIPI屏黑屏问题 MIPI调试过程$r$nMX27提供了个非常业的摄像头CSI接口，可以配置相关的口进行接口匹配。
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EMMC 上电时序测试 电源纹波测试
EMMC 上电时序测试 电源纹波测试$r$nemmc 芯片下方在敷铜时，焊盘部分要增加敷铜禁布框，避免铜皮分布不均影响散热，导致贴片虚焊。
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EMMC 时钟测试 数据信号测试
EMMC 时钟测试 数据信号测试$r$n电源纹波测试过大的问题通常和使用的探头以及端的连接方式有关。先检查了用户探头的连接方式，发现其使用的是如下面左图所示的长的鳄鱼夹地线，而且接地点夹在了单板的固定螺钉上，整个地环路比较大。由于大的地环路会引入更多的开关电源造成的空间电磁辐射噪声以及地环路噪声，于是更换成如下面右图所示的短的接地弹簧针。
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EMMC 复位测试 CLK测试 DQS测试
EMMC 复位测试 CLK测试 DQS测试$r$n这是个典型的电源纹波测试的问题。我们通过使用短的地线连接、换用低衰减比的探头以及带宽限制功能使得纹波噪声的测试结果大大改善。
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EMMC4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试
EMMC4 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试$r$n实际上就是把电缆的头接在示波器上，示波器设置为50欧姆输入阻抗；电缆的另头剥开，屏蔽层焊接在被测电路地上，中心导体通过个隔直电容连接被测的电源信号。这种方法的优点是低成本，低衰减比，缺点是致性不好，隔直电容参数及带宽不好控制。
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Emmc5 上电时序测试 电源纹波测试 时钟测试 数据信号测试
相关产品：Emmc5 , 上电时序测试 , 电源纹波测试 , 时钟测试 , 数据信号测试$r$n通俗的来说，eMMC=NAND闪存+闪存控制芯片+标准接口封装。
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EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试
EMMC4 , 复位测试 , CLK测试 , DQS测试$r$neMMC则在其内部集成了 Flash Controller，包括了协议、擦写均衡、坏块管理、ECC校验、电源管理、时钟管理、数据存取等功能。
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EMMC5 复位测试 CLK测试 DQS测试
EMMC5 复位测试 CLK测试 DQS测试$r$n包括Card Interface（CMD，DATA，CLK）、Memory core interface、总线接口控制（Card Interface Controller）、电源控制、寄存器组。
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EMMC5 复位测试 CLK测试
EMMC5 复位测试 CLK测试$r$nMMC通过发CMD的方式来实现卡的初始化和数据访问。$r$nDevice Identification Mode包括3个阶段Idle State、Ready State、Identification State。
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EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试 EMMC5 复位测试
EMMC4 复位测试 CLK测试 DQS测试 EMMC5 复位测试$r$nIdentification State，发送完 CID 后，eMMC Device就会进入该阶段。$r$n
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CLK测试 DQS测试 EMMC4 上电时序测试
相关产品：CLK测试 , DQS测试 , EMMC4 , 上电时序测试$r$nData Strobe 时钟信号由 eMMC 发送给 Host，频率与 CLK 信号相同，用于 Host 端进行数据接收的同步。Data Strobe 信号只能在 HS400 模式下配置启用，启用后可以提高数据传输的稳定性，省去总线 tuning 过程。
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