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Agilent 5800 和 5900 ICP-OES--使用 FACT 光谱谱图解析软件对 复杂样品进行实时光谱校正
点击次数: 270发布时间:2011/3/7
资料简介: ICP-OES 的光学分辨率可通过光学系统的物理属性来表征,并被 定义为半峰宽 (FWHM)。它指的是分析物峰信号强度一半处的峰 宽度。图 2 中,Cd 和 Fe 峰间的距离大约为 6 pm,ICP-OES 光 学系统一般很难完全将它们分开。在图 2 的例子中,FACT 能 够通过数学方式分开这两个峰,精密度和准确度 <2% RSD。 即使峰间距仅为 0.6 pm 时,FACT 仍能准确测定分析物浓度, 精密度 < 5% RSD,证明它将仪器的光学分辨率提高了 10 倍多 (图 3a)。
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