日立镀层测厚仪
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X射线分析仪 XRD
X荧光光谱仪
- 赛默飞X荧光光谱仪 XRF
- 斯派克X荧光光谱仪
- 奥林巴斯X荧光光谱仪
- Horiba掘场X荧光光谱仪XRF
- 日本电子X荧光光谱仪 XRF
- 岛津X荧光光谱仪 XRF
- 日立X荧光光谱仪
- 帕纳科X荧光光谱仪XRF
- 理学X荧光光谱仪
- 布鲁克X荧光光谱仪XRF
XPS-X射线光电子能谱仪
液质联用仪LC-MS
气质联用仪GC-MS
等离子体质谱ICP-MS
原子吸收光谱仪AAS
等离子体光谱ICP-AES/OES
近红外光谱NIR
红外显微镜
动态热机械分析仪DMA
热重分析仪(热天平)
热分析联用仪
样品前处理
离子色谱仪IC
顶空进样器
赛默飞无机质谱仪
同步热分析仪STA
赛默飞水质分析仪
差示扫描量热仪DSC
荧光分光光度计
气相色谱仪GC
红外光谱仪(IR、傅里叶)
液相色谱仪LC
紫外分光光度计UV(可见)
辐射仪、射线检测仪
粘度计
挤出机
流变仪
拉曼光谱
日立仪器
其他
详细内容
PCB / PWB 表面处理
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552测量非电镀镍(EN,NiP)电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营,确保高质量并避免昂贵的返工。
电力和电子组件的电镀
零件必须在规格范围内被电镀,以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata和MAXXI系列产品 ,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到 引线框架(引线框架)、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
FT110A日立镀层测厚仪IC 载板
半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析,及重复性好的数据。
服务电子制造过程 (EMS、ECS)
结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点,实现从进厂检查到生产线流程控制,再到终质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和终产品,确保每个阶段的质量。
光伏产品
对可再生能源的需求不断增加,而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性,从而确保效率。
受限材料和高可靠性筛查
与复杂的供应链合作,验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术,根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求,确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事域。
耐腐蚀性
检验所用涂层的厚度和化学性质,以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。
耐磨性
通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度,预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。
装饰性表面
当目标是实现无瑕表面时,整个生产过程中的质量控制至关重要。通过牛津仪器的多种测试设备,您可以可靠地检测基材,中间层和顶层厚度。
耐高温
在条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
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