赛默飞红外显微镜IR-Microscope首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术(Infinity Corrected Optics)，改变过去聚焦光为平行光，消除透镜产生的像差，使图像轮廓更清晰，同时如果在光路中加滤光片、偏振片时也不会产生象差。 

双光阑系统极大减小机械误差与衍射干扰，使得数据更精确，光谱更可靠。 

可选DIC(微分相衬)技术(Differential Interference Contrast)，通过偏振光的干涉即可以不同颜色、不同对比度区分样品的不同区域。

赛默飞红外显微镜IR-Microscope技术参数：
1.三筒目镜，既可摄像又可用眼观察； 
2.四位物镜，*多可同时放置四个不同的物镜； 
3.支持双检测器， 既可作中红外、也可作近红外； 
4.标配可以透射、反射及ATR 三种采样方式收集光谱； 
5.面扫描(Mapping)*小步长1微米,具有极高的可见光分辨能力。 

赛默飞红外显微镜IR-Microscope主要特点：
1.首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术,改变过去聚焦光为平行光； 
2.利用二相色性的"True View"技术，可在扫描过程中同时观测被测区域； 
3.复合双光阑(Reflex Aperture)， 大大减小杂散光； 
4.同轴设计：可见光光路与红外光同轴； 
5.可变或固定厚度补偿物镜。