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Y-HD-150L 芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机
点击次数：26发布时间：2023/3/10 8:50:00
更新日期：2023/3/10 8:50:00
所 在 地：
产品型号：Y-HD-150L
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详细内容
芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的性测试设备；特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。
芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机规格参数
1.内部尺寸（W×H×D）50×60×50cm
2.外部尺寸：（W×H×D）110×146×127cm
3.温度范围：-20℃～+150℃
4.湿度范围：20%～98%RH
5.温度波动度：≤±0.5℃
6.湿度波动度：≤ ±3.0%RH
7.温度均匀度：≤±2.0℃
8.湿度均匀度：≤ ±2.5%RH
9.温度**度：0.01
10.湿度**度：0.1
11.升温速度：约5.2℃/分钟
12.降温速度：约1.2℃/分钟
高低温试验箱满足标准：
GB/T2423.1～2《电工电子产品的基本环境试验规程试验。A：低温试验方法、试验B：高温试验方法》.
执行与满足标准：
1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件；
2.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件；
3.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
4.GB2423.1低温试验、试验A
5.GB2423.2高温试验、试验B. GB/T2423.34-2005高、低、温度组合循环试验。
